在工業(yè)中經(jīng)常使用高光面材質(zhì)加工一些平整度較高，且表面要求較高的工件。

由于這些工件表面光滑，同時(shí)具有高反光等特性，導(dǎo)致缺陷表露不清晰，檢測(cè)時(shí)會(huì)影響被測(cè)物的特征提取，降低表面缺陷檢測(cè)成功率。

傳統(tǒng)的檢測(cè)方法仍然依靠大量人工憑借肉眼檢測(cè)，不僅影響工作效率， 而且由于工人視覺疲勞、個(gè)人評(píng)判標(biāo)準(zhǔn)等因素存在， 直接影響零件的使用壽命和性能。除此之外， 還有采用激光探傷法、超聲掃描檢測(cè)法、紅外檢測(cè)法等無損檢測(cè)方法，但因其檢測(cè)成本較高，大多局限于部分高精密零件抽檢。

為了解決高反光工件表面缺陷檢測(cè)的問題，機(jī)器視覺的引入提高了金屬表面缺陷檢測(cè)的效率和精度，可以通過從圖像中提取信息并處理后實(shí)現(xiàn)最終的智能檢測(cè)與控制。

該方法區(qū)別于傳統(tǒng)的視覺算法，優(yōu)化后的算法可有效地解決圖像采集時(shí)出現(xiàn)的高反光問題，同時(shí)可識(shí)別出產(chǎn)品劃痕、裂紋、凹坑等缺陷類型，提供了更高的準(zhǔn)確性，為后續(xù)的缺陷檢測(cè)提供數(shù)據(jù)支持，提高生產(chǎn)效率。

場(chǎng)景一

高反光金屬工件表面缺陷檢測(cè)

檢測(cè)項(xiàng)目

待檢測(cè)產(chǎn)品為鈦合金材質(zhì)棒材，檢測(cè)長度為215mm，直徑約10mm，需要檢測(cè)產(chǎn)品表面裂紋、坑點(diǎn)、表面啃傷、表面氧化皮等缺陷。檢測(cè)時(shí)產(chǎn)品直線通過，并需要>6米/分鐘。

檢測(cè)難點(diǎn)

圓柱類金屬件表面缺陷分布具有隨機(jī)性和多樣性，而金屬件的表面紋理分布無規(guī)律，在缺陷檢測(cè)時(shí)容易產(chǎn)生干擾，使得工件圖像中夾雜較多的高光噪聲，從而提取出很多虛假的目標(biāo)缺陷，最終造成誤檢。

檢測(cè)方法

由于工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境復(fù)雜，任何一個(gè)小的變動(dòng)都可能會(huì)涉及到整個(gè)項(xiàng)目的改造，從而導(dǎo)致項(xiàng)目周期長，實(shí)施成本高。針對(duì)這一系列問題，可針對(duì)性設(shè)計(jì)專用光源系統(tǒng)和光照方式，加之以深度學(xué)習(xí)技術(shù)為基礎(chǔ)的智能視覺算法，即使在光照有微小變化的同時(shí)，也能保證各種缺陷都能準(zhǔn)確的被檢測(cè)出來，完美地解決高反光造成的噪聲問題。

檢測(cè)效果

檢測(cè)表面氧化缺陷

檢測(cè)表面坑點(diǎn)缺陷

場(chǎng)景二

高反光衛(wèi)浴零部件表面缺陷檢測(cè)

檢測(cè)項(xiàng)目

待測(cè)試物料為衛(wèi)浴零部件，需要對(duì)其表面劃痕進(jìn)行檢測(cè)識(shí)別。

檢測(cè)難點(diǎn)

生產(chǎn)制造中出現(xiàn)的細(xì)微劃痕與加工的紋理易混淆，并且金屬表面易反光，傳統(tǒng)算法難以識(shí)別。

檢測(cè)效果

場(chǎng)景三

高反光蘋果LOGO瑕疵檢測(cè)

檢測(cè)項(xiàng)目

待測(cè)試物料為蘋果LOG，需要對(duì)其表面瑕疵進(jìn)行檢測(cè)識(shí)別。

檢測(cè)難點(diǎn)

此類型的工樣品本身是屬于鏡面反光，工件本身平整度高，且易粘黏油污、手印等。

反光問題：由于材質(zhì)表面光潔度很高，已經(jīng)形成一個(gè)高光鏡面，光源即使在很弱的狀態(tài)下，表面的反光也會(huì)有非常強(qiáng)的對(duì)比度，這種對(duì)比度會(huì)把表面本身的雜質(zhì)、劃痕、研磨痕等缺陷覆蓋，使得視覺拍照無法檢測(cè)出零件表面缺陷。

倒影問題：由于材質(zhì)表面已經(jīng)形成一個(gè)鏡面，一般的光學(xué)鏡頭和視覺光源的燈珠等都會(huì)在材質(zhì)表面形成倒影，這個(gè)倒影會(huì)成像在最后的檢測(cè)畫面上,會(huì)嚴(yán)重影響材質(zhì)表面的成像效果，造成檢測(cè)無法進(jìn)行。

傳統(tǒng)視覺系統(tǒng)（無法進(jìn)行檢測(cè) ）

檢測(cè)方法反光問題：反射照明，平行光成像的光學(xué)原理，可以把鏡面反光問題完美解決，即使表面有微小的劃痕、擦傷、指紋、油污等缺陷也會(huì)以很高的灰度對(duì)比呈現(xiàn)出來，極大的降低了后期圖像算法的難度。 倒影問題：同軸照明成像系統(tǒng)，路平行度高，光斑均勻且全覆蓋檢測(cè)樣品本身，不會(huì)產(chǎn)生系統(tǒng)硬件在鏡面本身上的倒影。 檢測(cè)效果

矩視智能低代碼平臺(tái)可針對(duì)高反光工件檢測(cè)，可應(yīng)用于線纜、帶鋼、薄膜、玻璃、造紙、鋁板帶、鋁箔、銅箔、無紡布等整個(gè)制造過程中。并在生產(chǎn)制造過程中對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行全方位檢測(cè)，以確保出廠產(chǎn)品的品質(zhì)要求，從而提高產(chǎn)品質(zhì)量和工作效率。

審核編輯 ：李倩