解決電路表征問題，以加快上市時(shí)間

半導(dǎo)體測(cè)試工程師可以花費(fèi)大量時(shí)間來集成和排除系統(tǒng)故障。整合的復(fù)雜性可能成為以及時(shí)，有利可圖的方式將產(chǎn)品推向市場(chǎng)的巨大障礙。在某些情況下，必須配置和集成來自多個(gè)供應(yīng)商的硬件和軟件，以確保不同位置之間的數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)和測(cè)量準(zhǔn)確性。幸運(yùn)的是，我們的MeasureOne程序簡(jiǎn)化了定義，集成和驗(yàn)證系統(tǒng)以進(jìn)行電路表征的任務(wù)。

MeasureOne?是FormFactor的解決方案，基于與同類最佳合作伙伴的合作，提供具有經(jīng)過驗(yàn)證的性能的測(cè)試和測(cè)量解決方案。

半導(dǎo)體測(cè)試工程師可以花費(fèi)大量時(shí)間來集成和排除系統(tǒng)故障。整合的復(fù)雜性可能成為以及時(shí)，有利可圖的方式將產(chǎn)品推向市場(chǎng)的巨大障礙。在某些情況下，必須配置和集成來自多個(gè)供應(yīng)商的硬件和軟件，以確保不同位置之間的數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)和測(cè)量準(zhǔn)確性。幸運(yùn)的是，我們的MeasureOne程序簡(jiǎn)化了定義，集成和驗(yàn)證系統(tǒng)以進(jìn)行電路表征的任務(wù)。

在諸如放大器，混頻器和濾波器之類的電路上執(zhí)行晶片級(jí)測(cè)量的測(cè)試系統(tǒng)的規(guī)范可能是具有挑戰(zhàn)性的，尤其是當(dāng)單個(gè)晶片可以包括多種電路類型時(shí)。驗(yàn)證這些結(jié)構(gòu)所需的測(cè)試范圍廣泛且復(fù)雜，包括S參數(shù)，DC參數(shù)，噪聲系數(shù)，增益壓縮和互調(diào)失真。測(cè)量和校準(zhǔn)精度至關(guān)重要，尤其是在多個(gè)位置之間必須關(guān)聯(lián)測(cè)試的情況下。

要配置系統(tǒng)以應(yīng)對(duì)這些挑戰(zhàn)，您必須指定和提供來自多個(gè)供應(yīng)商的儀器，晶圓探針臺(tái)，RF和DC探針和軟件，然后在第一臺(tái)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試之前在現(xiàn)場(chǎng)集成并證明這些?？赡苄枰獢?shù)周甚至數(shù)月才能執(zhí)行第一次測(cè)量，并確信不同位置之間存在數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)和測(cè)量精度。

與我們的MeasureOne合作伙伴一起是德科技，F(xiàn)ormFactor可以通過提供完全集成的晶圓級(jí)測(cè)量解決方案直接應(yīng)對(duì)這些挑戰(zhàn)，并提供有保證的配置，安裝和支持。我們的晶圓級(jí)探針臺(tái)，微波和直流偏置探頭以及校準(zhǔn)工具與Keysight的測(cè)試儀器和測(cè)量與分析軟件相結(jié)合，可以對(duì)所有結(jié)構(gòu)進(jìn)行全面測(cè)量。

例如，晶圓級(jí)測(cè)量解決方案可能采用我們?nèi)碌腟UMMIT200半自動(dòng)晶圓探針系統(tǒng)，適用于Infinity探針?，最大可達(dá)200mm的晶圓，WinCal XE?校準(zhǔn)軟件和阻抗標(biāo)準(zhǔn)襯底用于校準(zhǔn)，以及Keysight PNA或PNA-X微波網(wǎng)絡(luò)分析儀，Keysight N6705B直流電源分析儀和Keysight WaferPro Express測(cè)量軟件平臺(tái)?；蛘撸蛟S不同的FormFactor探針系統(tǒng)或探針樣式更適合您的需求，或者不同的是德科技儀器 – 兩家公司都提供各種高性能，兼容的產(chǎn)品，以滿足各種各樣的要求。

為了確保所有這些元素協(xié)同工作以滿足您的應(yīng)用需求，我們與Keysight一起將在交付之前預(yù)先驗(yàn)證系統(tǒng)配置。我們的解決方案專家將安裝和驗(yàn)證系統(tǒng)S參數(shù)和DC參數(shù)性能，Keysight解決方案專家將驗(yàn)證可選的應(yīng)用功能。校準(zhǔn)對(duì)于確保準(zhǔn)確和可重復(fù)的測(cè)試至關(guān)重要，而這在晶圓探測(cè)環(huán)境中尤其具有挑戰(zhàn)性。

憑借FormFactor和是德科技提供的有保證的晶圓級(jí)測(cè)量解決方案，您可以獲得準(zhǔn)確且可重復(fù)的測(cè)試，并縮短首次測(cè)量時(shí)間。

審核編輯：符乾江