推出RFgenius晶圓上S參數測量套件

FormFactor的RFgenius晶圓上S參數測量套件包括以實惠的價格實現精確測量所需的所有關鍵組件-從探測站到網絡分析儀，應有盡有。所有經過驗證并證明可以提供領先的性能測量。

我們的RFgenius晶圓上S參數測量包包括以合理的價格實現精確測量所需的所有關鍵組件 – 從探測站到網絡分析儀。所有這些都經過驗證并證明可提供領先的性能測量。這個入門級系統是大學和學校的完美，易于購買的選擇，實驗室空間最小。

RFgenius軟件包包括執行高度精確測量的所有關鍵組件。不僅是探針臺，探針，定位器，電纜，校準基板和校準軟件，還有矢量網絡分析儀（VNA） – 業界首創。

該解決方案的性能范圍得到了進一步增強，遠遠超出了簡單的產品包。這些組件的完美集成，與先進的人體工程學設計和易于操作的控制相結合，確保了最佳的可用性和高度精確的測量。你得到：

1. 150毫米手動探針臺：

• • RF卡盤+/-3μm表面平面度
  • 獨特的200μm壓板接觸/分離行程，精度小于或等于1μm，可重復接觸
  • 精準的探針對準
  • 一致的接觸力和超行程
  • 穩定的接觸性能

1. 是德科技VNA：

• • 寬頻率覆蓋范圍：4.5,6.5,9,14,20,26.5 GHz
  • 全2端口VNA
  • 小巧緊湊的外形
  • 所有可靠的Keysight VNA都具有相同的校準和計量功能
  • Keysight VNA的通用GUI
  • 能夠擴展端口數量

1. 探頭和電纜：

• • 無限探頭– 最適合AI（Si）
  • ACP探針– 最適合AU（III-Vs）
  • | Z | 探測– 堅固的解決方案，使用壽命長
  • 精確接觸各種材料
  • 準確的測量結果和卓越的串擾特性
  • 包含了匹配的電纜和襯底

1. 校準工具：

• • 獨有的 1、2、3 和 4 端口晶圓上校準算法
  • 自動化校準監視
  • 獨特的測量和分析方法
  • 準確的S參數測量
  • 自動校準設置用于提高效率
  • 簡便快捷的數據解釋和報告

您將獲得這個完整的軟件包，以及可用的支持，安裝和培訓。無論您是進行關鍵測量還是只想學習如何進行晶圓上的S參數測量，我們都擁有所需的測試專業知識，可幫助您取得成功。

審核編輯：符乾江