在《NFC之華為AIPASS認證：測試系統簡介》中我們了解了AIPASS測試系統中的測試工具，即：用什么來測試。

本章開始，我們來了解AIPASS測試用例，如下是用思維導圖理出來的一個用例列表圖——

該用例包括射頻兼容性技術要求、協議兼容性技術要求、AID使用規范、互操作成功率技術要求、端到端刷卡時間技術要求，所測試的對象為華為生態鏈支持NFC的設備，包括智能門鎖、汽車鑰匙、社區門禁、公共交通收費機等。

載波頻率

NFC讀寫設備的載波頻率需保證在13.56MHz±10kHz范圍內。

最小發射場強

發射場強直接影響到刷卡距離和體驗，發射場強過小會導致刷卡距離短甚至刷卡失敗。該測試分別使用NFC Forum Listener1、3、6進行測試，使用82ohm負載

最大發射場強

發射場強過大可能導致近距離刷卡時因為信號飽和而導致刷卡失敗，同時發射場強過大也會帶來更高的功耗。該測試分別使用NFCForumListener1、3、6進行測試，使用82ohm負載

波形調制質量

NFC讀寫設備的發射信號調制質量直接影響刷卡效果，如果發射波形失真嚴重會直接導致刷卡失敗。該測試使用NFC Forum Listener 1測試；

NFC讀寫設備協議兼容性

包括：上電等待保護時間、APDU響應超時機制測試、選擇確認ASK協議字段兼容性、Mifare鑒權/讀命令/寫命令超時間測試、卡在位檢測

AID技術規范

AID是用于尋址卡中應用的標識，當前大多數智能NFC終端支持模擬多張不同的卡片應用，當前大多數城市交通卡采用交通部或住建部的AID來選擇應用，而門禁和智能門鎖沒有統一的AID，這對于智能終端識別和智能選擇匹配的卡片帶來很大的障礙，因此華為AIPASS制定了AID使用規范——

AID其由注冊的應用提供商標識RID和擴展的專用應用標識PIX組成，RID由華為頒發，PIX則用于區分應用發行者的不同應用，由華為Wallet Kit開發者平臺自動生成。

進行該測試時，為排除射頻性能影響，應該在射頻性能良好的刷卡點位進行。

互操作成功率測試

測試方法：使用機械臂夾持華為手機/穿戴產品，以1m/s的速度快速靠近NFC讀寫設備，等待2s后快速離開，

判定方法：統計在不同點位多次交易的綜合成功率是否>=90%，如果成功率滿足達標，且所有高度的中心點必須交易成功，滿足兩個條件測試通過，否則測試不通過

交易時間測試

在靜止條件下，檢查待測試NFC讀寫設備完成一次正常的端到端刷卡交易所需要的時間，該測試需要覆蓋測試規范中所列出的所有設備。

審核編輯 ：李倩