據麥姆斯咨詢報道，近日，半導體測試系統與探針卡知名廠商思達科技宣布推出牡羊座Aries Optima MEMS探針卡，這是全球首款應用在大量制造的微間距大電流MEMS垂直探針卡。Aries Optima是MEMS探針卡技術的最新巔峰，不僅制訂新標準，滿足了晶圓級測試的新需求，且進而促使思達科技成為MEMS探針卡技術的市場領導供應商。

Aries Optima全球首款應用在大量制造的微間距大電流MEMS垂直探針卡

十多年來，思達科技致力在開發以及部署高價值的垂直探針技術，研發了一套系統和方法，以快速適應市場興起的需求。思達科技在過去20年間定期推出新產品，滿足不斷變化、各方面的市場需求，持續實現對于半導體測試行業的承諾，包括增進測試效率、降低測試成本，以及測試精度的優化、達成最佳市場價值等等。

Aries Optima系列的MEMS垂直探針卡，設計方面除了滿足不斷發展的大電流需求外，探針間距也降至45um，可將投資回報率最大化且減少支出，具有更高的價值。思達擁有批量生產的MEMS探針，負載力為550mA，適用于標準應用；在汽車和高功率方面，則可達700mA、最高至150攝氏度。

根據半導體市調機構VLSI的報告，受惠于景氣回溫，其5G拓展、IT基礎建設等，推升芯片需求持續成長。這些市場因素驅動MEMS技術更加重視生產效率、減少測試時間與成本，市場占有率也正逐漸提高。相較于傳統的Cobra探針，AriesOptima系列穩定的DC和泄漏電流表現，非常適合應用在RF、AP、高功率等等的測試。

思達科技執行長劉俊良博士表示：“Aries Optima探針卡是全球第一張微間距MEMS垂直探針卡，支持大電流測試，同時減少客戶的測試頻率、時間、人力成本等，是下一個世代半導體測試的最佳選擇。”

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