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PulseMeter技術加速VCSEL測試

MEMS ? 來源:EE Times ? 2020-08-03 10:42 ? 次閱讀
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自從蘋果iPhone X導入3D傳感技術,引爆其中所使用的關鍵元件——VCSEL大放異彩,讓人臉識別、自動駕駛以及虛擬現實/增強現實(VR/AR)等各種3D傳感應用開始在消費電子和工業領域蓬勃發展,并持續推動對于VCSEL等光電元件的需求。然而,隨著許多應用對于3D空間的距離與速度要求提升,也為VCSEL測試帶來了諸多挑戰。

為了輸出高品質的電流脈沖來分析VCSEL晶圓和陣列的光電特性,Tektronix開發出號稱“超跑級”的2601B-PULSE System SourceMeter,在單機中整合具有直流(DC)輸出和量測功能的高速電流脈沖產生器,并搭載全新的PulseMeter技術,可在10A和10V的電源環境下輸出短至10μs的電流脈沖,不僅簡化VCSEL測試的復雜度,并將元件的自發熱效應降至最低。

當測試VCSEL、激光二極管(LD)等光電元件或進行晶圓級測試時,經常因為電流導入而增加元件的自發熱,甚至導致元件或探針損壞而無法有效表征元件特性。然而,“VCSEL的測試趨勢是電流驅動越來越大,脈沖要求卻越來越短,目前的儀器已經無法符合測試要求。”Tektronix Keithley部門資深技術顧問陳思豪指出,“Tektronix在與臺灣系統整合商合作的過程中發現,工程師需要一款測試VCSEL的專用儀器,協助他們在需要的電流強度下產生微秒級上升時間的短脈沖寬度。”

因此,Tektronix在其原有的2601 SMU基礎上,配備了高速的電流源,并導入PulseMeter技術,讓工程師無需手動調整脈沖輸出,即可在很短時間內打出短脈沖并進行測量,無論振幅和脈沖寬度如何,均可確保脈沖完整性。

Tektronix Keithley部門資深技術顧問張志豪介紹,完整的VCSEL測試通常需要搭配多款儀器,包括電流源、SMU以及切換器,而新的2601B“一機搞定”超快速的電流脈沖產生器和完整的SMU功能,讓客戶不必再手動接線、切換或結合其他儀器,即可直接進行VCSEL的各種電性測試,同時配合高達3μH的裝置阻抗,有效降低裝置的自發熱現象。

相較于競爭對手的儀器通常外掛順/逆向測試設備,而且還得手動進行切換或調整脈沖,陳思豪說:“PulseMeter提供了自動調整功能,能依據待測物(DUT)的阻抗匹配設定參數條件,為客戶打出期望的脈沖,不至于發生過度的脈沖過沖或欠沖而損壞DUT。”實現更快速的上升時間、準確的脈沖輸出和完整性。

陳思豪并強調,2601B采用特殊的控制回路系統,支援即時回溯與回饋以取得理想參數,而且是一款內建CPUDRAM嵌入式系統,可在儀器中增加測試腳本,從而提供了比現有測試架構更快3~4倍以上的時間。

2601B-PULSE System SourceMeter是專為VCSEL晶圓級測試而開發的,適用于LED測試、半導體裝置特性分析、電源管理測試以及突波電流的抑制測試等,目前支援10μs脈沖已能涵蓋約95%的主流應用。張志豪指出,因應車用激光雷達(LiDAR)市場所需的更短脈沖(甚至達到10ns)以及更大電流,Tektronix接下來將進一步朝著縮小體積以及更短脈沖的開發方向前進。

2601B-PULSE System SourceMeter采用全新PulseMeter技術,能夠滿足VCSEL和LiDAR的發展需求(來源:Tektronix)

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原文標題:PulseMeter技術加速VCSEL測試

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