在 Tessent SiliconInsight 產品中采用業界首創的 ATE-Connect 技術，實現 Tessent DFT 軟件與 Teradyne 測試儀之間的直接通信，從而將芯片調通時間從幾周縮短至幾天。

Teradyne 的UltraFLEX ATE完全支持采用 ATE-Connect 技術的 Tessent SiliconInsight 接口。

Tessent SiliconInsight Desktop enables a high-availablity bench-top debug environment for ATPG, MBIST, LBIST, and IJTAG

Mentor, A Siemens Business 近日宣布在其 Tessent SiliconInsight 產品中引入 ATE-Connect 技術，用于 IC 調試和調通。ATE-Connect 技術創建了行業標準接口，以消除測試儀專用軟件與可測試性設計 (DFT) 平臺之間的通信障礙。這項新技術加速了 IJTAG 器件調試，加快了產品投入量產，縮短了5G無線通信，自動駕駛和人工智能產品上市時間。Mentor 還宣布 Teradyne 的 UltraFLEX 測試解決方案通過其 PortBridge 技術，完全支持新的 Mentor 接口。

盡管業界廣泛采用IJTAG（IEEE 1687）測試架構進行芯片級測試，但很多公司在芯片級測試向量轉換，以及自動測試設備 (ATE) 調試測試保留了非常不同的方法。因此，每個特定芯片必須由 DFT 工程師編寫測試向量，然后由測試工程師進行轉換，以便在每種測試儀類型上調試每個場景。測試工程師通常借助時鐘周期在較低細節層次上工作，而 DFT 工程師通常使用 IJTAG 在較高層次上工作。兩者之間的工具和技術差異導致在如何最高效地調試芯片方面出現混亂，進而導致 IC 產品生命周期的較長延遲。

Mentor ATE-Connect 技術使用 TCP/IP 網絡協議，為被測器件提供 IJTAG 命令，并從 ATE 上的器件接收數據 – 同時將敏感設計信息保存在 Tessent SiliconInsight 工具內，且為 ATE 上的被測器件提供必需的激勵。通過這種標準網絡通信，客戶能夠充分利用現有的安全網絡，實現與全球各地的測試儀的無縫交互。

Mentor 的 Tessent 產品系列高級營銷總監 Brady Benware 表示，“我們的客戶需要更出色的解決方案，幫助他們應對芯片調通挑戰，將 IJTAG 的強大功能與 ATE 直接結合解決了調試和特征提取流程中的重要瓶頸。使用這個解決方案，客戶能夠在幾天而不是幾周時間內完成芯片調通。”

除了引入 ATE-Connect 技術之外，Mentor 的 Tessent 部門還宣布與 Teradyne 及其他重要客戶開展合作，以驗證整個解決方案。Teradyne 是面向測試和工業應用的自動化設備的領先供應商。Mentor 的Tessent工具與 ATE-Connect 以及UltraFLEX的 Teradyne PortBridge 相結合，這使得DFT 開發環境能夠直接與 Teradyne UltraFLEX 通信，實現 IP 模塊的交互調試，因此測試調試效率的顯著提升。

“Teradyne 通過各種工具創新和合作伙伴關系，滿足客戶對提高工作效率的需求，”Teradyne 半導體測試部副總裁兼 SoC 業務組總經理 Jason Zee說道，“與 Mentor 的合作是我們如何與生態系統合作伙伴進行協作，以確保客戶取得成功的重要實例。”