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關于IEC 61000-4-2下的ESD的性能分析和應用

弘模半導體 ? 來源:djl ? 2019-09-09 08:53 ? 次閱讀
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有的時候,ESD的指標要求在產品設計中難以滿足,所以很多客戶一般得出結論,在物理上是不可能實現的。在這篇報道里,我們向大家介紹公司如何幫助許多客戶走出面臨的困境。

例如,顧客必須根據IEC 61000-4-2標準對模擬開關的應用保證 8kV的片上ESD保護。在信號路徑阻抗不能使用,電容負載預算非常小,總的IC尺寸僅限于一個特定面積的情況下, 幾乎沒留下硅面積導致ESD設計窗口幾乎不存在。同時,導致項目局勢更加不確定的是,這個過程是給客戶量身定做的,對公司和客戶來說很多都是未知,而市場立即需要IC成品,不能拖延。

為此,公司創建一個專用的ESD解決方案的測試芯片、涵蓋設計窗口,提取表征方法及器件的防靜電性能,從而開發新的解決方案來面對手頭的挑戰。ESD解決方案對于導入產品和制造幾乎同時進行, 作為第一步,首先讓產品具有正常的操作性能和高ESD魯棒性的保證。 在第一個硅產品實現通過其性能規格后,但CORNER(邊際)分析表明,還是存在大規模生產失敗的風險。使用專用的測試結構,我們能夠調整設計使其建立在安全邊際的商業生產之上。目前, 公司針對模擬開關產品,推出了定制開發的一系列解決方案,已經面向市場。這些解決方案是公司在十幾年的ESD項目中,支持了許多IC設計師實現高ESD的要求而得到的經驗,比如:

關于IEC 61000-4-2下的ESD的性能分析和應用

其中的一些項目也可以在公司發表的文章中獲得:

On-Chip ESD Protection Achieving 8kV HBM Without Compromising the 3.4Gbps HDMI Interface

On-Chip ESD Protection with Improved High Holding Current SCR (HHISCR) Achieving IEC 8kV Contact System Level

關于IEC 61000-4-2下的ESD的性能分析和應用

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