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      電子發(fā)燒友網(wǎng)>電子資料下載>測(cè)試測(cè)量>Testing Multiple UUT’s at Once

      Testing Multiple UUT’s at Once

      2010-07-22 | rar | 95 | 次下載 | 2積分

      資料介紹

      Introduction
      Manufacturing test engineers
      often face the challenge of testing
      multiple UUT’s (Units Under
      Test) on a single functional test
      system. Testing a single UUT
      functionally is hard enough,
      and testing more than one UUT
      on a single test system simply
      adds to the problem. Even so,
      there are often good reasons
      to test multiple UUT’s at once.
      Sometimes there is a requirement
      to do s for example, modern
      PCB manufacturing often results
      in multiple boards physically
      built on the same panel for
      reasons of cost. In this case,
      the test system needs to be able
      to deal with multiple UUT’s.
      Testing multiple UUT’s at once
      can also frequently help reduce
      the cost of test equipment
      requiredto match a particular
      manufacturing capacity by
      increasing test throughput per
      UUT and increasing test system
      utilization.
      Testing
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