資料介紹
臺(tái)階儀通過(guò)掃描被測(cè)樣品表面,獲取高分辨率的表面形貌數(shù)據(jù),能夠揭示微觀(guān)結(jié)構(gòu)的特征和性能。
了解工作原理和性能特點(diǎn)
臺(tái)階儀利用掃描探針在樣品表面上進(jìn)行微觀(guān)測(cè)量,通過(guò)探測(cè)探針和樣品表面之間的相互作用力,獲取表面形貌信息。具體而言,掃描探針通過(guò)細(xì)微的力變化,測(cè)量樣品表面的起伏程度以及凹凸部分的高度差。然后通過(guò)數(shù)據(jù)處理,形成高分辨率的圖像。
它能夠?qū)崿F(xiàn)納米級(jí)別的測(cè)量,對(duì)微觀(guān)結(jié)構(gòu)的細(xì)節(jié)進(jìn)行觀(guān)測(cè)和分析,揭示出表面的微觀(guān)特征;還具備高速掃描的能力,實(shí)現(xiàn)快速獲取樣品的形貌數(shù)據(jù)。

功能和作用介紹
作為一款超精密接觸式微觀(guān)輪廓測(cè)量?jī)x,臺(tái)階儀可以對(duì)微米和納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測(cè)量。測(cè)量參數(shù):
(1)臺(tái)階高度:能夠測(cè)量納米到330μm甚至1000μm的臺(tái)階高度;
(2)粗糙度與波紋度:可獲取粗糙度與波紋度相關(guān)的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余項(xiàng)參數(shù);
(3)翹曲與形狀:能夠測(cè)量樣品表面的2D形狀或翹曲。
臺(tái)階儀的應(yīng)用
臺(tái)階儀具有廣泛的適用范圍,在科學(xué)研究、材料表征、納米技術(shù)、半導(dǎo)體制造等領(lǐng)域都有應(yīng)用。如在半導(dǎo)體制造中,臺(tái)階儀可以用于檢測(cè)半導(dǎo)體材料表面的缺陷和形貌,為半導(dǎo)體器件的開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)提供可靠的數(shù)據(jù)參考。

臺(tái)階儀具備出色的精確性和穩(wěn)定性,而且樣品適應(yīng)面廣,對(duì)測(cè)量工件的表面反光特性、材料種類(lèi)、材料硬度都沒(méi)有特別要求。在材料科學(xué)、制造業(yè)、科研等領(lǐng)域都有著重要的應(yīng)用價(jià)值。相信隨著科技的不斷發(fā)展,臺(tái)階儀將會(huì)在測(cè)量領(lǐng)域發(fā)揮更加重要的作用。
臺(tái)階儀優(yōu)勢(shì)總結(jié)
1、高精度的測(cè)量能力
臺(tái)階儀在微觀(guān)表面形貌的測(cè)量中非常準(zhǔn)確,能夠滿(mǎn)足高精度測(cè)量的需求。CP系列臺(tái)階儀具有亞埃級(jí)分辨率,結(jié)合單拱龍門(mén)式設(shè)計(jì)降低環(huán)境噪聲干擾,確保儀器具有良好的測(cè)量精度及重復(fù)性。其500萬(wàn)像素高分辨率彩色攝像機(jī),即時(shí)進(jìn)行高精度定位測(cè)量。

采用具有超微力可調(diào)和亞納米級(jí)分辨率的臺(tái)階儀測(cè)量ITO膜厚,高精度測(cè)量同時(shí)不損傷樣件本身。


2、快速測(cè)量的能力
臺(tái)階儀配備精密XY位移臺(tái)、360°電動(dòng)旋轉(zhuǎn)平臺(tái)和電動(dòng)升降Z軸,可對(duì)樣品的XYZ、角度等空間姿態(tài)進(jìn)行調(diào)節(jié),提高測(cè)量精度及效率。快速獲取表面的高程數(shù)據(jù),將測(cè)量結(jié)果以圖形的形式展現(xiàn)出來(lái)。這提高了測(cè)量效率,減少了測(cè)量時(shí)間。
3、廣泛的適用范圍
臺(tái)階儀可以對(duì)各種不同材料的表面進(jìn)行測(cè)量,包括金屬、塑料、玻璃等材料。不管是平坦的表面還是曲面,臺(tái)階儀都能夠輕松應(yīng)對(duì),確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。
典型應(yīng)用


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