資料介紹
基于SMIC0.35 μm的CMOS工藝,設(shè)計(jì)了一種高電源抑制比,同時(shí)可在全工藝角下的得到低溫漂的帶隙基準(zhǔn)電路。首先采用一個(gè)具有高電源抑制比的基準(zhǔn)電壓,通過(guò)電壓放大器放大得到穩(wěn)定的電壓,以提供給帶隙核心電路作為供電電源,從而提高了電源抑制比。另外,將電路中的關(guān)鍵電阻設(shè)置為可調(diào)電阻,從而可以改變正溫度電壓的系數(shù),以適應(yīng)不同工藝下負(fù)溫度系數(shù)的變化,最終得到在全工藝角下低溫漂的基準(zhǔn)電壓。Cadence virtuoso仿真表明:在27 ℃下,10 Hz時(shí)電源抑制比(PSRR)-109 dB,10 kHz時(shí)(PSRR)達(dá)到-64 dB;在4 V電源電壓下,在-40~80 ℃范圍內(nèi)的不同工藝角下,溫度系數(shù)均可達(dá)到5.6×10-6 V/℃以下。


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