資料介紹
JTAG邊界掃描技術設計方案
JTAG(Joint Test Action Group聯合測試行動小組)是一種國際標準測試協議IEEE 1149.1兼容),主要用于芯片內部測試。現在多數的高級器件都支持JTAG協議,如DSP、FPGA器件等。標準的JTAG接口是4線:TMS、TCK、TDI、TDO,分別為模式選擇、時鐘、數據輸入和數據輸出線。JTAG最初是用來對芯片進行測試的,基本原理是在器件內部定義一個TAP(Test Access Port測試訪問口)通過專用的JTAG測試工具對進行內部節點進行測試。JTAG測試允許多個器件通過JTAG接口串聯在一起,形成一個JTAG鏈,能實現對各個器件分別測試?,F在,JTAG接口還常用于實現ISP(In-System Programmable在線編程),對FLASH等器件進行編程。JTAG編程方式是在線編程,傳統生產流程中先對芯片進行預編程現再裝到板上因此而改變,簡化的流程為先固定器件到電路板上,再用JTAG編程,從而大大加快工程進度。
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