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隨著超大規(guī)模集成電路（VLSI）、表面安裝器件（SMD）、多層印制電路板（MPCB）等技術(shù)的發(fā)展，電路板的常規(guī)測(cè)試方式面臨挑戰(zhàn)。介紹了邊界掃描技術(shù)及邊界掃描測(cè)試的基本原理，提出了一種基于邊界掃描技術(shù)的測(cè)試系統(tǒng)方案及其實(shí)現(xiàn)，并著重介紹了JTAG總線控制器的設(shè)計(jì)。
邊界掃描測(cè)試的基本原理
邊界掃描測(cè)試的物理基礎(chǔ)是IEEEll49．1測(cè)試總線和設(shè)計(jì)在集成電路內(nèi)的邊界掃描結(jié)構(gòu)。集成電路邊界結(jié)構(gòu)示意圖如圖1所示。
邊界掃描
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