SN65LVDS33-EP 增強(qiáng)型產(chǎn)品高速差動接收器

數(shù)據(jù)： SN65LVDS179-EP, SN65LVDS180-EP, SN65LVDS050-EP, SN65LVDS051-EP 數(shù)據(jù)表

描述

該系列四個LVDS數(shù)據(jù)線接收器提供業(yè)內(nèi)最寬的共模輸入電壓范圍。這些接收器提供與5V VECL信號兼容的輸入電壓范圍規(guī)格以及總體增加的接地噪聲容限。它們具有行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)尺寸，可選擇集成端接。

精確控制差分輸入電壓閾值允許包含50 mV的輸入電壓滯后，以改善緩慢變化的輸入信號的噪聲抑制。在整個輸入共模電壓范圍內(nèi)，輸入閾值仍然不超過+50 mV。

LVDS信號的高速切換通常需要在接收時使用線路阻抗匹配電阻 - 電纜或傳輸介質(zhì)的末端。 SN65LVDT系列接收器通過將其與接收器集成來消除此外部電阻。未端接的SN65LVDS系列也可用于多點(diǎn)或其他端接電路。

接收器可承受±15kV人體模型（HBM）和±600V機(jī)器模型（MM）靜電放電接收器輸入引腳相對于地而不會損壞。這為有線和其他連接提供了可靠性，其中潛在的破壞性噪聲始終是一種威??脅。

接收器還包括一個（正在申請專利的）故障保護(hù)電路，它在輸入信號丟失后的600 ns內(nèi)提供高電平輸出。信號丟失的最常見原因是斷開的電纜，短路或斷電的發(fā)射器。故障保護(hù)電路可防止在這些故障條件下將噪聲作為有效數(shù)據(jù)接收。此功能也可用于有線或總線信令。請參閱 SN65LVDS32B的有源故障保護(hù)功能應(yīng)用筆記。

這些器件的預(yù)期應(yīng)用和信號技術(shù)是通過大約100的受控阻抗介質(zhì)進(jìn)行點(diǎn)對點(diǎn)基帶數(shù)據(jù)傳輸。。傳輸介質(zhì)可以是印刷電路板跡線，背板或電纜。數(shù)據(jù)傳輸?shù)淖罱K速率和距離取決于介質(zhì)的衰減特性和與環(huán)境耦合的噪聲。

SN65LVDS33-EP的特點(diǎn)是工作溫度范圍為-55°C至125°C。

特性

受控基線？一個裝配/測試現(xiàn)場，一個制造現(xiàn)場
高達(dá)-55°C至125°C的擴(kuò)展溫度性能
增強(qiáng)的減少制造源（DMS）支持
資格譜系^（1）
400-Mbps信令率^（2）和200 -Mxfr /s數(shù)據(jù)傳輸速率
采用3.3 V單電源供電
-4-V至5 V共模輸入電壓范圍
差分輸入閾值＆lt; ±50 mV在整個共模輸入電壓范圍內(nèi)具有50 mV的遲滯
集成110- LVDT產(chǎn)品上的線路終端電阻器
符合TIA /EIA-644（LVDS）
有源故障保護(hù)確保無輸入的高電平輸出
輸入在斷電時保持高阻抗
TTL輸入具有5 V容差
引腳 - 兼容AM26LS32，SN65LVDS32B，μA9637，SN65LVDS9637B

^（1）符合JEDEC和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的元件認(rèn)證，確保在延長時間內(nèi)可靠運(yùn)行溫度范圍。這包括但不限于高加速應(yīng)力測試（HAST）或偏壓85/85，溫度循環(huán)，高壓釜或無偏HAST，電遷移，鍵合金屬間壽命和模塑化合物壽命。這種鑒定測試不應(yīng)被視為超出規(guī)定的性能和環(huán)境限制使用該組件的合理性。
^（2）線路的信號傳輸速率是每秒產(chǎn)生的電壓轉(zhuǎn)換次數(shù)以單位bps（每秒位數(shù)）表示。

參數(shù) 與其它產(chǎn)品相比?LVDS/M-LVDS/ECL/CML 產(chǎn)品

?
No. of Tx
No. of Rx
Input Signal
Output Signal
Signaling Rate (Mbps)
ESD HBM (kV)
ICC (Max) (mA)
Function
Rating
Operating Temperature Range (C)
Package Group
Package Size: mm2:W x L (PKG)
?

SN65LVDS33-EP
0 ? ?
4 ? ?
CMOS ECL LVCMOS LVDS LVECL LVPECL PECL ? ?
LVTTL ? ?
400 ? ?
15 ? ?
25 ? ?
Receiver ? ?
HiRel Enhanced Product ? ?
-55 to 125 ? ?
SOIC ? ?
16SOIC: 59 mm2: 6 x 9.9(SOIC) ? ?