具有18位通用總線收發器的'ABTH18502A和'ABTH182502A掃描測試設備是德州儀器SCOPE可測性集成電路系列的成員。該系列器件支持IEEE標準1149.1-1990邊界掃描，便于測試復雜的電路板組件。掃描訪問測試電路是通過4線測試訪問端口（TAP）接口完成的。

在正常模式下，這些器件是18位通用總線收發器，它們組合了D型鎖存器和D類型的觸發器，允許數據以透明，鎖存或時鐘模式流動。它們既可以用作兩個9位收發器，也可以用作一個18位收發器。測試電路可以由TAP激活，以獲取出現在器件引腳上的數據的快照樣本，或者對邊界測試單元執行自測試。在正常模式下激活TAP不會影響SCOPE通用總線收發器的功能操作。

每個方向的數據流由輸出使能控制（和 ），鎖存使能（LEAB和LEBA）和時鐘（CLKAB和CLKBA）輸入。對于A到B數據流，當LEAB為高電平時，器件以透明模式工作。當LEAB為低電平時，A-bus數據被鎖存，而CLKAB保持在靜態低或高邏輯電平。否則，如果LEAB為低電平，則A總線數據存儲在CLKAB從低到高的轉換中。當為低電平，B輸出有效。當為高電平，B輸出處于高阻態。 B-to-A數據流類似于A-to-B數據流，但使用，LEBA和CLKBA輸入。

在測試模式下，SCOPE正常運行通用總線收發器被禁止，并且測試電路能夠觀察和控制設備的I /O邊界。啟用后，測試電路根據IEEE標準1149.1-1990中描述的協議執行邊界掃描測試操作。

四個專用測試引腳觀察并控制測試的操作電路：測試數據輸入（TDI），測試數據輸出（TDO），測試模式選擇（TMS）和測試時鐘（TCK）。另外，測試電路執行其他測試功能，例如數據輸入上的并行簽名分析（PSA）和來自數據輸出的偽隨機模式生成（PRPG）。所有測試和掃描操作都與TAP接口同步。

通過每個I /O引腳架構采用一個邊界掃描單元（BSC），可以提高掃描效率。該體系結構以捕獲最相關的測試數據的方式實現。還包括PSA /COUNT指令，以簡化二進制計數尋址方案有用的存儲器和其他電路的測試。

有源總線保持電路將未使用或浮動的數據輸入保持在有效的邏輯電平。

'ABTH182502A的B端口輸出，設計用于提供或吸收高達12 mA的電流，包括25- 用于減少過沖和下沖的串聯電阻。

SN54ABTH18502A和SN54ABTH182502A的特點是可在-55°C至125°C的整個軍用溫度范圍內工作。 SN74ABTH18502A和SN74ABTH182502A的工作溫度范圍為-40°C至85°C。

A-to-B數據流是所示。 B-to-A數據流類似，但使用OEBA \，LEBA和CLKBA。

在建立穩態輸入條件之前的輸出電平 < /p>