SN54BCT8373A 具有八路 D 類鎖存器的掃描測試設備

描述

具有八進制D型鎖存器的BCT8373A掃描測試設備是Texas Instruments SCOPE ^TM可測試性集成的成員 -
電路系列。該系列器件支持IEEE標準1149.1-1990邊界掃描，便于測試復雜的電路板組件。掃描訪問測試電路是通過4線測試訪問端口（TAP）接口完成的。

在正常模式下，這些器件在功能上等同于'F373和'BCT373八通道D型鎖存器。測試電路可以由TAP激活，以獲取出現在設備終端的數據的快照樣本，或者對邊界測試單元執行自測試。在正常模式下激活TAP不會影響SCOPE ^TM八進制鎖存器的功能操作。

在測試模式下，SCOPE ^{TM的正常操作}

八進制鎖存器被禁止，并且測試電路能夠觀察和控制器件的I /O邊界。啟用后，測試電路可以執行邊界掃描測試操作，如IEEE標準1149.1-1990中所述。

四個專用測試端子用于控制測試電路的操作：測試數據輸入（TDI），測試數據輸出（TDO），測試模式選擇（TMS）和測試時鐘（TCK）。另外，測試電路可以執行其他測試功能，例如數據輸入上的并行簽名分析（PSA）和來自數據輸出的偽隨機模式生成（PRPG）。所有測試和掃描操作都與TAP接口同步。

SN54BCT8373A的特點是可在-55°C至125°C的整個軍用溫度范圍內工作。 SN74BCT8373A的特點是工作溫度范圍為0°C至70°C。

德州儀器SCOPE ^TM可測性產品系列的成員
Octal Test-Integrated電路
在功能上等效于正常功能模式下的'F373和'BCT373
兼容IEEE標準1149.1-1990（JTAG）測試訪問端口和邊界掃描架構
測試操作同步測試訪問端口（TAP）
通過識別TMS引腳上的雙高電平電壓（10 V）實現可選的測試復位信號
SCOPE ^TM指令集
- IEEE標準1149.1-1990必需指令，可選INTEST，CLAMP和HIGHZ
- 輸入并行簽名分析
- 從輸出生成偽隨機模式
- 樣本輸入/切換輸出
封裝選項包括塑料小外形（DW）封裝，陶瓷芯片載體（FK）和標準塑料和陶瓷300密耳DIP（JT，NT）
SCOPE是Texas I的商標nstruments Incorporated。

?
Technology Family
VCC (Min) (V)
VCC (Max) (V)
Bits (#)
ICC @ Nom Voltage (Max) (mA)
tpd @ Nom Voltage (Max) (ns)
IOL (Max) (mA)
Input Type
Output Type
Rating
Operating Temperature Range (C)
?