帶有八進制總線收發器的ABT8245掃描測試設備是德州儀器SCOPE ^TM 可測性集成電路系列的成員。該系列器件支持IEEE標準1149.1-1990邊界掃描，便于測試復雜的電路板組件。掃描訪問測試電路是通過4線測試訪問端口（TAP）接口完成的。

在正常模式下，這些器件在功能上等同于'F245和'ABT245八路總線收發器。測試電路可以由TAP激活，以獲取出現在器件引腳上的數據的快照樣本，或者對邊界測試單元執行自測試。在正常模式下激活TAP不會影響SCOPE ^TM 八進制總線收發器的功能操作。

數據流由方向控制（DIR）和輸出使能控制（）輸入。根據DIR的邏輯電平，允許從A總線到B總線或從B總線到A總線的數據傳輸。輸出啟用（）輸入可用于禁用設備，使總線有效隔離。

在測試模式下，正常運行禁止SCOPE ^TM 總線收發器，并啟用測試電路以觀察和控制器件的I /O邊界。啟用后，測試電路可以執行IEEE標準1149.1-1990中描述的邊界掃描測試操作。

四個專用測試引腳控制測試電路的操作：測試數據輸入（TDI），測試數據輸出（TDO），測試模式選擇（TMS）和測試時鐘（TCK）。另外，測試電路執行其他測試功能，例如數據輸入上的并行簽名分析（PSA）和來自數據輸出的偽隨機模式生成（PRPG）。所有測試和掃描操作都與TAP接口同步。

SN54ABT8245的特點是可在-55°C至125°C的整個軍用溫度范圍內工作。 SN74ABT8245的工作溫度范圍為-40°C至85°C。