動(dòng)態(tài)

• 發(fā)布了文章 2025-07-22 09:52

  四探針法精準(zhǔn)表征電阻率與接觸電阻 | 實(shí)現(xiàn)Mo/NbN低溫超導(dǎo)薄膜電阻器

  

  低溫薄膜電阻器作為超導(dǎo)集成電路的核心元件，其核心挑戰(zhàn)在于實(shí)現(xiàn)超導(dǎo)材料NbN與金屬電阻層Mo間的低接觸電阻（R?）。本文使用四探針法研究鉬（Mo）為電阻材料，利用其低電阻率和優(yōu)異工藝重復(fù)性，通過NbN表面氬離子清洗活化及鋁（Al）繃帶層技術(shù)顯著降低界面接觸電阻，為NbN基超導(dǎo)器件提供可靠解決方案。電阻特性通過使用Xfilm埃利四探針方阻儀在2.5–300K溫區(qū)

  接觸電阻 電阻器 集成電路

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• 發(fā)布了文章 2025-07-22 09:52

  接觸式表面輪廓測量儀校準(zhǔn)方法比較分析

  

  接觸（觸針）式表面輪廓測量儀廣泛應(yīng)用于機(jī)械加工、精密制造等領(lǐng)域，用于測量零件的輪廓尺寸、曲率半徑、直線度等參數(shù)。本文旨在比較《JJF（閩）1043—2011〈接觸（觸針）式表面輪廓測量儀校準(zhǔn)規(guī)范〉》《JJF（冀）3012—2021〈觸針式表面輪廓測量儀校準(zhǔn)規(guī)范〉》這兩種校準(zhǔn)方法的差異，F(xiàn)lexfilm臺(tái)階儀可以驗(yàn)證其有效性，為儀器校準(zhǔn)提供技術(shù)參考。輪廓儀的基

  測量儀 輪廓測量儀

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• 發(fā)布了文章 2025-07-22 09:52

  接觸電阻與傳輸線法TLM技術(shù)深度解密：從理論到實(shí)操，快速掌握精準(zhǔn)測量核心

  

  Flexfilm專注于電阻/方阻及薄膜電阻檢測領(lǐng)域的創(chuàng)新研發(fā)與技術(shù)突破，致力于為全球集成電路和光伏產(chǎn)業(yè)提供高精度、高效率的量檢測解決方案。公司以核心技術(shù)為驅(qū)動(dòng)，深耕半導(dǎo)體量測裝備及光伏電池電阻檢測系統(tǒng)的研發(fā)。在半導(dǎo)體以及光伏器件制造中，接觸電阻的精確測量是優(yōu)化器件性能的關(guān)鍵。本文結(jié)合專業(yè)文獻(xiàn)深入解析接觸電阻的測量原理及TLM技術(shù)，并通過實(shí)例演示如何計(jì)算關(guān)鍵參

  半導(dǎo)體 接觸電阻 檢測

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  光伏建筑一體化BIPV：透射率與光伏發(fā)電效率的應(yīng)用研究

  

  本研究針對傳統(tǒng)玻璃難以平衡采光與能源性能的問題，開發(fā)了一種多目標(biāo)優(yōu)化框架，用于設(shè)計(jì)半透明建筑集成光伏（ST-BIPV）玻璃。以武漢某大學(xué)辦公室為案例，建立參數(shù)化模型控制光伏玻璃的面積分布、透光率等關(guān)鍵變量，通過仿真評(píng)估采光充足度（sDA）、眩光空間自主率（sGA）和光伏發(fā)電效率（EP_e）并尋找帕累托最優(yōu)解。最后采用K-means聚類算法對結(jié)果進(jìn)行分析。Fl

  bipv 光伏 光伏發(fā)電

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  四探針法丨導(dǎo)電薄膜薄層電阻的精確測量、性能驗(yàn)證與創(chuàng)新應(yīng)用

  

  薄層電阻（SheetResistance,Rs）是表征導(dǎo)電薄膜性能的關(guān)鍵參數(shù)，直接影響柔性電子、透明電極及半導(dǎo)體器件的性能。四探針法以其高精度和可靠性成為標(biāo)準(zhǔn)測量技術(shù)，尤其適用于納米級(jí)薄膜表征。本文系統(tǒng)探討四探針法的測量原理、優(yōu)化策略及其在新型導(dǎo)電薄膜研究中的應(yīng)用，并結(jié)合FlexFilm在半導(dǎo)體量測裝備及光伏電池電阻檢測系統(tǒng)的技術(shù)積累，為薄膜電學(xué)性能的精確測

  電阻 精確測量 薄膜

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• 發(fā)布了文章 2025-07-22 09:51

  高效OLED印刷工藝應(yīng)用 | 橢偏儀優(yōu)化HTL層VNPB薄膜均勻性

  

  有機(jī)發(fā)光二極管（OLED）的噴墨印刷技術(shù)因其材料利用率高、可大面積加工等優(yōu)勢成為產(chǎn)業(yè)焦點(diǎn)，但多層溶液加工存在根本性挑戰(zhàn)：層間互溶與咖啡環(huán)效應(yīng)引發(fā)薄膜不均勻?qū)е缕骷阅芟陆怠１疚奶岢鲆环N基于二元溶劑（環(huán)己酮/環(huán)己基苯）和可熱交聯(lián)空穴傳輸材料VNPB構(gòu)建穩(wěn)定界面，首次實(shí)現(xiàn)空穴注入層（HIL）、空穴傳輸層（HTL）、發(fā)光層（EML）全噴墨印刷，為高性能溶液加工OL

  OLED 二極管

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  液態(tài)金屬接觸電阻精確測量：傳輸線法（TLM）的新探索

  

  液態(tài)金屬（如galinstan）因高導(dǎo)電性、可拉伸性及生物相容性，在柔性電子領(lǐng)域備受關(guān)注。然而，其與金屬電極間的接觸電阻（Rc）測量存在挑戰(zhàn)：傳統(tǒng)傳輸線法（TLM）假設(shè)電極薄層電阻（Rshe）可忽略，但液態(tài)金屬的Rshe與銅電極（10?3?Ω/□）相近，導(dǎo)致電流分布不均，測量誤差顯著。本文提出一種改進(jìn)TLM方法,通過獨(dú)立電流施加與FEM模擬交聯(lián)，使用TLM接

  TLM 接觸電阻 測量

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  臺(tái)階儀在3D打印中的應(yīng)用：精確測量物體表面粗糙度

  

  增材制造（AM）技術(shù)通過逐層堆積材料實(shí)現(xiàn)復(fù)雜結(jié)構(gòu)成型，但3D打印表面質(zhì)量存在層厚均勻性和組裝方式導(dǎo)致的臺(tái)階效應(yīng)問題，表面粗糙度直接影響機(jī)械性能與功能可靠性，尤其在航空航天、生物醫(yī)療等領(lǐng)域至關(guān)重要。因此精確測量表面輪廓成為提升打印質(zhì)量的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。本文提出基于多模-無芯-多模（MCM）光纖的低成本曲率傳感器，通過探針位移-曲率-光強(qiáng)調(diào)制機(jī)制實(shí)現(xiàn)表面輪廓實(shí)時(shí)測量。

  3D打印 測量

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  BIPV建筑一體化的熱電平衡 | 光譜選擇性薄膜的透射率調(diào)控

  

  技術(shù)支持：180-1566-6117建筑光伏一體化（BIPV）技術(shù)因響應(yīng)“碳中和”目標(biāo)而快速發(fā)展。然而，現(xiàn)有半透明光伏技術(shù)（如鈣鈦礦電池）雖能兼顧發(fā)電與透光，但其成本高、耐久性差限制了商業(yè)化應(yīng)用。傳統(tǒng)光伏模塊（如晶硅電池）雖效率高，但完全遮擋光線，導(dǎo)致室內(nèi)熱增益增加。因此，光譜選擇性設(shè)計(jì)成為解決這一問題的有效途徑。本研究開發(fā)了一種柔性PDMS/ITO/PET

  光伏 光譜 晶硅電池

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  臺(tái)階儀應(yīng)用 | 半導(dǎo)體GaAs/Si異質(zhì)外延層表面粗糙度優(yōu)化

  

  在半導(dǎo)體行業(yè)中，硅基光電子技術(shù)是實(shí)現(xiàn)光互聯(lián)、突破集成電路電互聯(lián)瓶頸的關(guān)鍵，而在硅si襯底上外延生長高質(zhì)量GaAs薄膜是硅基光源單片集成的核心。臺(tái)階儀作為重要的表征工具，在GaAs/Si異質(zhì)外延研究中，通過對樣品表面粗糙度的測試，為優(yōu)化生長工藝、提升薄膜質(zhì)量提供了關(guān)鍵數(shù)據(jù)支撐，對探究外延片生長規(guī)律具有重要意義。1實(shí)驗(yàn)方法flexfilm本研究中使用臺(tái)階儀通過接

  光電子 半導(dǎo)體 測試

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