動態

• 發布了文章 2025-11-14 18:12

  臺階儀在機翼氣動性能中的應用：基于NASA案例的表面粗糙度精確量化

  

  在風洞試驗中，NASA接合流模型翼身接合處的流動分離現象是驗證計算流體力學模型的關鍵難題。為深入研究該問題，2022年測試階段重點聚焦于對稱翼型機翼的邊界層轉捩特性。計算分析表明，特定波長（3-5毫米）的表面粗糙度會顯著放大橫流不穩定性，從而影響轉捩位置與形態。然而，模型機翼的實際粗糙度狀況及其對不穩定性的具體影響尚不明確。Flexfilm探針式臺階儀可以實

  NASA 測量

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• 發布了文章 2025-11-12 18:02

  橢偏光譜技術在VO?薄膜光誘導IMT中的應用：瞬態介電函數的動力學路徑解析

  

  二氧化釩（VO?）作為一種強關聯電子材料，在約68°C時會發生絕緣體-金屬相變（IMT），并伴隨晶體結構變化，這一現象使其在超快光子器件（如光開關和調制器）中具有巨大應用潛力。然而，要實現對其光誘導相變的有效控制，必須深入理解其飛秒至皮秒尺度的超快動力學過程，而傳統探測手段難以直接獲取相變過程中材料光學性質（如介電函數）的完整動態信息。Flexfilm全光譜

  IMT 光譜

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• 發布了文章 2025-11-10 18:03

  臺階儀在鋁合金耐蝕性研究中的應用：基于電流密度的MAO膜層結構表征與性能優化

  

  鋁合金因其低密度、良好的導電導熱性及易加工等優點，廣泛應用于汽車、航空航天等領域。然而，其較差的耐腐蝕性能嚴重限制了使用壽命和應用范圍。為提升鋁合金的耐蝕性，微弧氧化（MAO）作為一種高效、環保的表面處理技術，近年來受到廣泛關注。該技術可在鋁合金表面原位生成結合力強、耐蝕性好的陶瓷氧化層。Flexfilm探針式臺階儀可以實現表面微觀特征的精準表征與關鍵參數的

  電流 電源

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• 發布了文章 2025-11-07 18:02

  穆勒矩陣橢偏儀：DVRMME技術的系統誤差建模與校準補償

  

  雙渦旋延遲器穆勒矩陣橢偏儀（DVRMME）是一種先進的單次快照式全偏振測量技術。然而，其測量精度極易受到光學元件裝配偏差和器件缺陷引入的系統誤差影響。Flexfilm全光譜橢偏儀可以非接觸對薄膜的厚度與折射率的高精度表征，廣泛應用于薄膜材料、半導體和表面科學等領域。本研究構建了一個包含六個關鍵系統誤差參數（涉及起偏器、檢偏器及兩個渦旋延遲器的方位角與延遲量偏

  光學 測量儀器

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• 發布了文章 2025-11-05 18:02

  臺階儀表面輪廓測量國際標準：ISO21920與ISO4287的差異解析

  

  Flexfilm探針式臺階儀作為表面形貌測量的精密儀器，能夠依據最新的ISO21920系列標準實現表面微觀特征的精準表征與關鍵參數的定量測量。該設備通過高精度探針掃描技術，可精確測定樣品的表面臺階高度與薄膜厚度，為材料質量控制和生產工藝優化提供可靠的數據支撐。本文將系統闡述ISO21920-2:2021與舊版ISO4287:1996在表面輪廓分析標準方面的主

  ISO 測量 輪廓測量

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• 發布了文章 2025-11-03 18:04

  面向半導體量測的多波長橢偏技術：基于FDM-SE實現埃米級精度與同步測量

  

  隨著半導體芯片制造精度進入納米尺度，薄膜厚度的精確測量已成為保障器件性能與良率的關鍵環節。光譜橢偏儀雖能實現埃米級精度的非接觸測量，但傳統設備依賴寬帶光源與光譜分光系統，存在測量效率低、系統復雜且易受環境干擾等問題。Flexfilm全光譜橢偏儀可以非接觸對薄膜的厚度與折射率的高精度表征，廣泛應用于薄膜材料、半導體和表面科學等領域。本研究提出了一種基于頻分復用

  FDM 半導體 測量

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• 發布了文章 2025-10-31 18:12

  臺階儀校準：材料測具的輪廓保真度與探針幾何形態

  

  在工業表面紋理測量領域，觸針式輪廓儀仍是最常用的測量工具。為確保測量結果的準確性，需要定期使用ISO5436-1標準定義的材料測具進行校準。這些校準過程涉及探針與材料測具之間的機械接觸，在重復測量中可能引起磨損，進而影響校準結果的可靠性。Flexfilm探針式臺階儀可以實現表面微觀特征的精準表征與關鍵參數的定量測量，精確測定樣品的表面臺階高度與膜厚，為材料質

  材料 測量

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• 發布了文章 2025-10-29 18:02

  橢偏儀在DRAM制造量測中的應用：實現20mm×20mm超寬視場下晶圓級精準監控及提升良率

  

  隨著半導體器件特征尺寸持續縮小，局部結構變化易影響電學性能甚至導致失效，對高空間密度、高吞吐量的先進計量技術需求迫切。但現有技術存在局限：光譜類技術（SR/SE/MMSE）需逐點測量，難以實現晶圓級快速計量；SEM分辨率高卻視場小，無法高效識別大范圍結構變化；傳統成像類技術視場窄且穆勒矩陣組件利用不足。Flexfilm全光譜橢偏儀可以非接觸對薄膜的厚度與折射

  晶圓 測量

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• 發布了文章 2025-10-27 18:04

  如何選擇臺階儀的觸針針尖？基于三維仿真與譜分析的選型標準研究

  

  臺階儀因其測量的直接性和數據的可追溯性，在表面形貌精密測量中始終占據關鍵地位。然而，其觸針的球狀針尖在掃描表面時，無法完全復現真實的峰谷結構，導致所測輪廓與實際輪廓存在差異，此現象被稱為“輪廓畸變”或“機械濾波”。Flexfilm探針式臺階儀可以實現表面微觀特征的精準表征與關鍵參數的定量測量，精確測定樣品的表面臺階高度與膜厚，為材料質量把控和生產效率提升提供

  三維仿真 儀器 測量

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• 發布了文章 2025-10-24 18:09

  光譜橢偏儀入門指南：原理、方法與基礎應用

  

  在材料科學和光學表征領域，精確獲取薄膜厚度與光學常數是理解材料性能的關鍵。然而，傳統測量方法往往面臨破壞樣品、精度不足或難以適用于復雜微觀結構的局限。針對這一問題，光譜橢偏儀（SE）作為一種非侵入式光學技術，通過分析偏振光在反射或透射過程中發生的振幅比（Ψ）和相位差（Δ）變化，實現對表面、界面和薄膜的高精度表征。Flexf

  光譜 測試

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