深入解析 onsemi FDP52N20:高性能 N 溝道 MOSFET 的卓越之選
在電子設(shè)計(jì)領(lǐng)域,MOSFET 作為關(guān)鍵的功率開關(guān)元件,其性能直接影響著電源轉(zhuǎn)換、照明等眾多應(yīng)用的效率和穩(wěn)定性。今天,我們將深入探討 onsemi 推出的 FDP52N20 N 溝道 MOSFET,揭開其技術(shù)奧秘和應(yīng)用潛力。
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產(chǎn)品概述
FDP52N20 屬于 onsemi 的 UniFET MOSFET 家族,該家族基于平面條紋和 DMOS 技術(shù),專為降低導(dǎo)通電阻、提升開關(guān)性能和增強(qiáng)雪崩能量強(qiáng)度而設(shè)計(jì)。這使得 FDP52N20 非常適合用于開關(guān)電源轉(zhuǎn)換器應(yīng)用,如功率因數(shù)校正(PFC)、平板顯示(FPD)電視電源、ATX 電源和電子燈鎮(zhèn)流器等。
關(guān)鍵特性
低導(dǎo)通電阻
在 (V{GS}=10V)、(I{D}=26A) 的典型條件下,(R_{DS(on)}) 僅為 41 mΩ,這意味著在導(dǎo)通狀態(tài)下,MOSFET 的功率損耗更低,從而提高了電源轉(zhuǎn)換效率。
低柵極電荷
典型柵極電荷為 49 nC,低柵極電荷有助于減少開關(guān)過程中的能量損耗,提高開關(guān)速度,降低開關(guān)噪聲。
低 (C_{RSS})
典型 (C_{RSS}) 為 66 pF,這一特性使得 MOSFET 在開關(guān)過程中能夠更快地響應(yīng),減少開關(guān)時(shí)間,提高整體性能。
100% 雪崩測(cè)試
經(jīng)過 100% 雪崩測(cè)試,保證了 MOSFET 在雪崩狀態(tài)下的可靠性和穩(wěn)定性,能夠承受較大的能量沖擊。
環(huán)保合規(guī)
該器件為無鉛產(chǎn)品,符合 RoHS 標(biāo)準(zhǔn),滿足環(huán)保要求。
絕對(duì)最大額定值
| 參數(shù) | 符號(hào) | 數(shù)值 | 單位 |
|---|---|---|---|
| 漏源電壓 | (V_{DSS}) | 200 | V |
| 柵源電壓 | (V_{GS}) | ±30 | V |
| 連續(xù)漏極電流((T_{C}=25^{circ}C)) | (I_{D}) | 52 | A |
| 連續(xù)漏極電流((T_{C}=100^{circ}C)) | (I_{D}) | 33 | A |
| 脈沖漏極電流 | (I_{DM}) | 208 | A |
| 單脈沖雪崩能量 | (E_{AS}) | 2520 | mJ |
| 雪崩電流 | (I_{AR}) | 52 | A |
| 重復(fù)雪崩能量 | (E_{AR}) | 35.7 | mJ |
| 峰值二極管恢復(fù) (dv/dt) | (dv/dt) | 4.5 | V/ns |
| 功率耗散((T_{C}=25^{circ}C)) | (P_{D}) | 357 | W |
| 25°C 以上降額系數(shù) | - | 2.86 | W/°C |
| 工作和存儲(chǔ)溫度范圍 | (T{J},T{STG}) | -55 至 +150 | °C |
| 焊接時(shí)最大引腳溫度(距外殼 1/8″,5s) | (T_{L}) | 300 | °C |
需要注意的是,超過最大額定值可能會(huì)損壞器件,影響其功能和可靠性。
熱特性
| 參數(shù) | 符號(hào) | 數(shù)值 | 單位 |
|---|---|---|---|
| 結(jié)到外殼熱阻(最大) | (R_{JC}) | 0.35 | °C/W |
| 結(jié)到環(huán)境熱阻(最大) | (R_{JA}) | 62.5 | °C/W |
熱特性對(duì)于 MOSFET 的長期穩(wěn)定工作至關(guān)重要,合理的散熱設(shè)計(jì)可以確保 MOSFET 在安全的溫度范圍內(nèi)運(yùn)行。
電氣特性
關(guān)斷特性
- 漏源擊穿電壓((B_{V D S S})):在 (V{GS}=0V)、(I{D}=250μA)、(T_{J}=25^{circ}C) 條件下,最小值為 200V。
- 擊穿電壓溫度系數(shù)((B{V D S S}/T{J})):在 (I_{D}=250μA) 時(shí),參考 25°C,為 -0.2 V/°C。
- 零柵壓漏極電流((I_{D S S})):在 (V{D S}=200V)、(V{G S}=0V) 時(shí),最大值為 1μA;在 (V{D S}=160V)、(T{C}=125^{circ}C) 時(shí),最大值為 10μA。
- 柵體泄漏電流((I_{G S S})):在 (V{G S}=±30V)、(V{D S}=0V) 時(shí),最大值為 ±100 nA。
導(dǎo)通特性
- 柵極閾值電壓((V_{G S(th)})):在 (V{G S}=V{D S})、(I_{D}=250μA) 條件下,范圍為 3.0 - 5.0V。
- 靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻((R_{D S(on)})):在 (V{G S}=10V)、(I{D}=26A) 時(shí),典型值為 0.041Ω,最大值為 0.049Ω。
- 正向跨導(dǎo)((g_{f s})):在 (V{D S}=40V)、(I{D}=26A) 時(shí),典型值為 35S。
動(dòng)態(tài)特性
- 輸入電容((C_{iss})):在 (V{D S}=25V)、(V{G S}=0V)、(f = 1MHz) 時(shí),典型值為 2230pF,最大值為 2900pF。
- 輸出電容((C_{oss})):典型值為 540pF,最大值為 700pF。
- 反向傳輸電容((C_{rss})):典型值為 66pF,最大值為 100pF。
- 總柵極電荷((Q_{g(tot)})):在 (V{D S}=160V)、(I{D}=52A)、(V_{G S}=10V) 時(shí),典型值為 49nC,最大值為 63nC。
- 柵源柵極電荷((Q_{gs})):典型值為 19nC。
- 柵漏“米勒”電荷((Q_{gd})):典型值為 24nC。
開關(guān)特性
- 導(dǎo)通延遲時(shí)間((t_{d(on)})):在 (V{D D}=100V)、(I{D}=20A)、(R_{G}=25Ω) 條件下,典型值為 53ns,最大值為 115ns。
- 導(dǎo)通上升時(shí)間((t_{r})):典型值為 175ns,最大值為 359ns。
- 關(guān)斷延遲時(shí)間((t_{d(off)})):典型值為 48ns,最大值為 107ns。
- 關(guān)斷下降時(shí)間((t_{f})):典型值為 29ns,最大值為 68ns。
漏源二極管特性
- 最大連續(xù)漏源二極管正向電流((I_{S})):最大值為 52A。
- 最大脈沖漏源二極管正向電流((I_{S M})):最大值為 204A。
- 漏源二極管正向電壓((V_{S D})):在 (V{G S}=0V)、(I{S D}=52A) 時(shí),最大值為 1.5V。
- 反向恢復(fù)時(shí)間((t_{r r})):在 (V{G S}=0V)、(I{S D}=52A)、(dI_{F}/dt = 100A/μs) 時(shí),典型值為 162ns。
- 反向恢復(fù)電荷((Q_{r r})):典型值為 1.3μC。
典型性能特性
文檔中提供了多個(gè)典型性能特性曲線,包括導(dǎo)通區(qū)域特性、傳輸特性、導(dǎo)通電阻隨漏極電流和柵極電壓的變化、體二極管正向電壓隨源電流和溫度的變化、電容特性、柵極電荷特性、擊穿電壓隨溫度的變化、導(dǎo)通電阻隨溫度的變化、最大安全工作區(qū)、最大漏極電流和瞬態(tài)熱響應(yīng)曲線等。這些曲線直觀地展示了 FDP52N20 在不同條件下的性能表現(xiàn),為工程師在設(shè)計(jì)電路時(shí)提供了重要的參考依據(jù)。
封裝和訂購信息
FDP52N20 采用 TO - 220 封裝,包裝方式為管裝,每管 1000 個(gè)單位。封裝尺寸詳細(xì)列出,為 PCB 設(shè)計(jì)提供了精確的參考。
應(yīng)用領(lǐng)域
FDP52N20 適用于多種應(yīng)用領(lǐng)域,包括 PDP 電視、照明、不間斷電源和 AC - DC 電源等。其高性能特性使得它在這些應(yīng)用中能夠發(fā)揮出色的作用,提高系統(tǒng)的效率和穩(wěn)定性。
總結(jié)
onsemi 的 FDP52N20 N 溝道 MOSFET 憑借其低導(dǎo)通電阻、低柵極電荷、低 (C_{RSS}) 以及良好的雪崩特性等優(yōu)勢(shì),成為開關(guān)電源轉(zhuǎn)換器應(yīng)用的理想選擇。在實(shí)際設(shè)計(jì)中,工程師需要根據(jù)具體的應(yīng)用需求,合理選擇和使用該器件,并注意其絕對(duì)最大額定值和熱特性,以確保系統(tǒng)的可靠性和穩(wěn)定性。你在使用類似 MOSFET 時(shí)遇到過哪些問題呢?歡迎在評(píng)論區(qū)分享你的經(jīng)驗(yàn)和見解。
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