安森美NTLJD3115P P溝道MOSFET:低電壓應用的理想之選
在電子設備的設計中,MOSFET作為關鍵的功率開關元件,其性能直接影響著設備的效率和穩定性。今天,我們來深入了解安森美(onsemi)的NTLJD3115P,一款專為低電壓應用優化的雙P溝道MOSFET。
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產品特性
封裝優勢
NTLJD3115P采用WDFN 2x2 mm封裝,這種封裝具有暴露的漏極焊盤,能夠提供出色的熱傳導性能。其2x2 mm的占位面積與SC - 88相同,并且是2x2 mm封裝中具有最低導通電阻(RDS(on))的解決方案。同時,它的低外形(<0.8 mm)使得它能夠輕松適應薄型環境。
低電壓驅動
該MOSFET具有1.8V的RDS(on)額定值,適用于低電壓柵極驅動邏輯電平操作,這使得它在電池供電的便攜式設備中具有很大的優勢。
雙向電流流動
采用共源極配置,支持雙向電流流動,增加了其在電路設計中的靈活性。
環保設計
NTLJD3115P是無鉛器件,符合環保要求。
應用領域
電池和負載管理
在便攜式設備中,如智能手機、平板電腦等,NTLJD3115P可用于電池和負載管理,優化電池的使用效率,延長設備的續航時間。
鋰電池充電和保護
在鋰電池充電和保護電路中,它能夠提供可靠的開關功能,確保電池的安全充電和使用。
高端負載開關
作為高端負載開關,NTLJD3115P可以有效地控制負載的通斷,提高電路的穩定性和可靠性。
電氣特性
最大額定值
| 參數 | 符號 | 值 | 單位 |
|---|---|---|---|
| 漏源電壓 | VDSS | -20 | V |
| 柵源電壓 | VGS | ±8.0 | V |
| 連續漏極電流(穩態,TA = 25°C) | ID | -3.3 | A |
| 連續漏極電流(穩態,TA = 85°C) | ID | -2.4 | A |
| 脈沖漏極電流 | IDM | -20 | A |
| 功率耗散(穩態,TA = 25°C) | PD | 1.5 | W |
| 工作結溫和存儲溫度 | TJ, TSTG | -55 to 150 | °C |
| 源極電流(體二極管) | IS | -1.9 | A |
| 焊接用引腳溫度(1/8〃離外殼10 s) | TL | 260 | °C |
電氣參數
- 關斷特性:漏源擊穿電壓V(BR)DSS為 -20V(VGS = 0 V,ID = -250 μA),其溫度系數為9.95 mV/°C。零柵壓漏電流IDSS在TJ = 25°C時為 -1.0 μA,TJ = 85°C時為 -10 μA。
- 導通特性:柵極閾值電壓VGS(TH)在 -0.4 V到 -1.0 V之間,其溫度系數為2.44 mV/°C。不同柵源電壓下的漏源導通電阻RDS(on)有所不同,如VGS = -4.5 V,ID = -2.0 A時,RDS(on)為75 - 100 mΩ。
- 電荷、電容和柵極電阻:輸入電容CISS為531 pF,輸出電容COSS為91 pF,反向傳輸電容CRSS為56 pF。總柵極電荷QG(TOT)為5.5 - 6.2 nC。
- 開關特性:在不同的測試條件下,開關時間有所不同。例如,VGS = -4.5 V,VDD = -5.0 V,ID = -1.0 A,RG = 6.0 Ω時,導通延遲時間td(ON)為6.0 ns,上升時間tr為11 ns,關斷延遲時間td(OFF)為21 ns,下降時間tf為8.0 ns。
- 漏源二極管特性:正向恢復電壓VSD在TJ = 25°C時為 -0.75 - -1.0 V,TJ = 125°C時為 -0.64 V。反向恢復時間tRR為12.6 ns。
典型性能曲線
導通區域特性
從圖1可以看出,不同柵源電壓下,漏極電流隨漏源電壓的變化情況。隨著柵源電壓的降低,漏極電流也相應減小。
傳輸特性
圖2展示了不同結溫下,漏極電流與柵源電壓的關系。結溫的變化會影響MOSFET的傳輸特性。
導通電阻與漏極電流和柵源電壓的關系
圖3和圖4顯示了導通電阻RDS(on)隨漏極電流和柵源電壓的變化。在不同的柵源電壓下,導通電阻隨漏極電流的增加而變化。
導通電阻隨溫度的變化
圖5表明,導通電阻RDS(on)會隨著結溫的升高而增大。
漏源泄漏電流與電壓的關系
圖6顯示了漏源泄漏電流隨漏源電壓的變化情況。
電容變化
圖7展示了輸入電容CISS、輸出電容COSS和反向傳輸電容CRSS隨柵源電壓和漏源電壓的變化。
柵源和漏源電壓與總電荷的關系
圖8顯示了柵源和漏源電壓與總柵極電荷的關系。
電阻性開關時間隨柵極電阻的變化
圖9表明,開關時間會隨著柵極電阻的變化而變化。
二極管正向電壓與電流的關系
圖10展示了二極管正向電壓與電流的關系。
最大額定正向偏置安全工作區
圖11顯示了在不同脈沖時間下,漏極電流與漏源電壓的關系,以及RDS(on)限制、熱限制和封裝限制。
熱響應
圖12展示了瞬態熱阻隨時間和占空比的變化情況。
封裝和訂購信息
封裝
NTLJD3115P采用WDFN6封裝,其機械尺寸和引腳連接在文檔中有詳細說明。
訂購信息
| 器件 | 封裝 | 包裝 |
|---|---|---|
| NTLJD3115PT1G | WDFN6(無鉛) | 3000/卷帶盤 |
需要注意的是,該器件已停產。如果需要相關信息,請聯系安森美代表,最新信息可在www.onsemi.com上查詢。
總結
安森美NTLJD3115P雙P溝道MOSFET以其出色的熱傳導性能、低導通電阻和低電壓驅動能力,在便攜式設備的電池和負載管理、鋰電池充電和保護等應用中具有很大的優勢。盡管該器件已停產,但它的設計理念和性能特點仍值得我們在電子設計中借鑒。在實際應用中,我們需要根據具體的電路需求,合理選擇MOSFET,并注意其最大額定值和電氣參數,以確保電路的穩定運行。你在使用MOSFET時遇到過哪些問題呢?歡迎在評論區分享你的經驗。
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