深入解析RFD3055LE與RFD3055LESM N溝道邏輯電平功率MOSFET
一、引言
在電子工程師的日常設計工作中,功率MOSFET是不可或缺的關鍵元件。今天我們要詳細探討的是RFD3055LE和RFD3055LESM這兩款N溝道邏輯電平功率MOSFET,它們在開關穩壓器、開關轉換器、電機驅動器和繼電器驅動器等應用中表現出色。
文件下載:RFD3055LESM-D.pdf
二、品牌與命名變更
Fairchild已成為ON Semiconductor的一部分。由于系統要求,部分Fairchild可訂購的零件編號需要更改,原編號中的下劃線(_)將改為破折號(-)。大家可通過ON Semiconductor網站(www.onsemi.com)核實更新后的設備編號。
三、產品概述
3.1 基本特性
這兩款MOSFET采用最新制造工藝技術,利用接近LSI電路的特征尺寸,實現了硅的最佳利用,性能卓越。它們專為特定應用設計,可直接由集成電路驅動。
3.2 主要參數
- 電流與電壓:具備11A的連續漏極電流和60V的漏源電壓。
- 導通電阻:漏源導通電阻 (r_{DS(ON)} = 0.107 Omega)。
- 溫度特性:擁有溫度補償PSPICE?模型,能更好地適應不同溫度環境。
四、訂購信息
| PART NUMBER | PACKAGE | BRAND |
|---|---|---|
| RFD3055LE | TO - 251AA | F3055L |
| RFD3055LESM 9A | TO - 252AA | F3055L |
五、絕對最大額定值
| 在設計時,必須嚴格遵守絕對最大額定值,否則可能導致設備永久性損壞。以下是主要參數: | RFD3055LE, RFD3055LESM9A | UNITS | |
|---|---|---|---|
| 漏源電壓 (V_{DSS}) | 60 | V | |
| 漏柵電壓 (V_{DG}) | 60 | V | |
| 柵源電壓 (V_{GS}) | ±16 | V | |
| 連續漏極電流 (I_{D}) | 11 | A | |
| 脈沖漏極電流 (I_{DM}) | 參考峰值電流曲線 | ||
| 單脈沖雪崩額定值 (E_{AS}) | 參考UIS曲線 | ||
| 功率耗散 (P_{D}) | 38 | W | |
| 25°C以上降額 | 0.25 | W/°C | |
| 工作和存儲溫度 (T{J}, T{STG}) | -55 至 175 | °C | |
| 焊接最大溫度(引腳) | 300 | °C | |
| 焊接最大溫度(封裝體) | 260 | °C |
六、電氣規格
6.1 關鍵參數
- 漏源擊穿電壓 (BV_{DSS}):在 (I = 250 mu A),(V_{GS} = 0V) 時為 60V。
- 柵閾值電壓 (V_{GS(TH)}):在 (V{GS} = V{DS}),(I_{D} = 250 mu A) 時為 1 - 3V。
- 零柵電壓漏極電流 (I_{DSS}):在不同條件下有不同值,如 (V{DS} = 55V),(V{GS} = 0V) 時為 1 (mu A);(V{DS} = 50V),(V{GS} = 0V),(T_{C} = 150°C) 時為 250 (mu A)。
6.2 開關特性
- 導通時間 (t_{ON}):在 (V{DD} = 30V),(I{D} = 8A),(V{GS} = 4.5V),(R{GS} = 320 Omega) 時為 170 ns。
- 關斷時間 (t_{OFF}):為 92 ns。
6.3 電容特性
- 輸入電容 (C_{ISS}):在 (V{DS} = 25V),(V{GS} = 0V),(f = 1MHz) 時為 350 pF。
- 輸出電容 (C_{OSS}):為 105 pF。
- 反向傳輸電容 (C_{RSS}):為 23 pF。
七、典型性能曲線
7.1 功率耗散與溫度關系
從歸一化功率耗散與外殼溫度曲線(Figure 1)可以看出,隨著溫度升高,功率耗散能力下降。
7.2 最大連續漏極電流與溫度關系
最大連續漏極電流隨溫度升高而降低(Figure 2),這在設計時需要考慮,以確保設備在不同溫度下的穩定運行。
7.3 瞬態熱阻抗
通過歸一化瞬態熱阻抗曲線(Figure 3),可以了解設備在不同脈沖持續時間下的熱特性。
7.4 正向偏置安全工作區
正向偏置安全工作區曲線(Figure 4)展示了設備在不同電壓和電流下的安全工作范圍。
7.5 峰值電流能力
峰值電流能力曲線(Figure 5)表明,脈沖寬度對峰值電流有影響,且溫度升高時峰值電流需降額。
八、測試電路與波形
文檔中提供了多種測試電路和波形,如未鉗位能量測試電路(Figure 16)、開關測試電路(Figure 18)和柵極電荷測試電路(Figure 20)等,這些電路和波形有助于工程師進行性能測試和驗證。
九、PSPICE電氣模型
文檔給出了PSPICE電氣模型,可用于電路仿真。對于該模型的進一步討論,可參考相關文獻。大家在實際應用中,是否嘗試過使用該模型進行仿真,效果如何呢?
十、注意事項
10.1 產品使用限制
ON Semiconductor產品不適合用于生命支持系統、FDA Class 3醫療設備或類似分類的醫療設備以及人體植入設備。
10.2 知識產權與責任
ON Semiconductor擁有眾多專利、商標等知識產權,同時對產品的使用和應用不承擔相關責任,購買者需自行負責產品的合規性。
總之,RFD3055LE和RFD3055LESM是性能優良的N溝道邏輯電平功率MOSFET,但在設計使用時,要充分考慮其各項參數和特性,確保電路的穩定性和可靠性。你在使用類似MOSFET時遇到過哪些問題呢?歡迎在評論區分享。
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