探索MAX9963/MAX9964:低功耗高速ATE驅動/比較器的卓越之選
在電子測試領域,對高性能、低功耗的測試設備需求與日俱增。MAXIM推出的MAX9963/MAX9964四通道低功耗、高速引腳電子驅動和比較器IC,無疑為這一需求提供了出色的解決方案。今天,我們就來深入了解這款芯片的特點、性能及應用。
文件下載:MAX9963AJCCQ+TD.pdf
一、芯片概述
MAX9963/MAX9964是一款四通道的IC,每個通道都集成了三電平引腳驅動器、雙比較器和可變鉗位電路。其驅動器具備寬電壓范圍和高速操作能力,擁有高阻和有源端接(第三級驅動)模式,即使在低電壓擺幅下也具有高度線性。雙比較器在各種輸入條件下都能提供低色散(定時變化)。當設備配置為高阻抗接收器時,鉗位電路可對高速被測設備(DUT)波形進行阻尼。
芯片提供與ECL、LVPECL、LVDS和GTL電平兼容的高速差分控制輸入,比較器則有ECL/LVPECL或靈活的開集電極輸出可供選擇。此外,還有A、B兩個版本,A版本為驅動器和比較器提供緊密匹配的增益和偏移,適用于對成本敏感且多通道共享參考電平的系統;B版本為每個通道提供獨立參考電平,成本更低。
二、關鍵特性
(一)小尺寸與低功耗
- 小尺寸:在 0.4 平方英寸的空間內集成了四個通道,有效節省了電路板空間。
- 低功耗:每個通道的功耗僅為 825mW(典型值),大大降低了系統的整體功耗。
(二)高速性能
能夠實現 500Mbps 的數據速率(3VP - P),滿足高速測試的需求。
(三)低定時色散
雙比較器在各種輸入條件下都能保持低色散,確保測試結果的準確性。
(四)寬工作電壓范圍
工作電壓范圍為 - 1.5V 至 +6.5V,適應不同的測試環境。
(五)有源端接模式
提供有源端接(第三級驅動)模式,增強了信號的傳輸質量。
(六)低泄漏模式
低泄漏模式下的最大泄漏電流僅為 15nA,減少了不必要的電流損耗。
(七)集成鉗位電路
集成的鉗位電路可有效阻尼高速 DUT 波形,提高測試的穩定性。
(八)易于接口
能夠輕松與大多數邏輯系列接口,方便系統集成。
(九)數字可編程壓擺率
通過 3 線、低電壓、CMOS 兼容的串行接口對壓擺率進行數字編程,增加了設計的靈活性。
(十)內部邏輯端接電阻
內部集成的邏輯端接電阻減少了電路板上的分立元件數量,簡化了設計。
(十一)低增益和偏移誤差
A 版本提供緊密匹配的增益和偏移,降低了誤差,提高了測試精度。
三、電氣特性
(一)電源特性
- 正電源(VCC):典型值為 9.75V,范圍在 9.5V 至 10.5V 之間。
- 負電源(VEE):典型值為 - 5.25V,范圍在 - 6.5V 至 - 4.5V 之間。
- 電源電流:正電源電流(ICC)典型值為 165mA,負電源電流(IEE)典型值為 - 320mA。
- 功耗:典型功耗為 3.3W,最大為 4.0W。
(二)DUT 特性
- 工作電壓范圍:最大為 - 1.5V 至 +6.5V。
- 泄漏電流:高阻模式下,泄漏電流最大為 ±1.5μA;低泄漏模式下,最大為 ±15nA。
- 電容:驅動器在端接模式下電容為 3pF,高阻模式下為 5pF。
(三)驅動特性
- 直流輸出特性:輸出偏移電壓在不同版本下有所不同,A 版本最大為 ±15mV,B 版本最大為 ±100mV;增益在 0.960 至 1.001V/V 之間;線性誤差最大為 ±5mV。
- 動態輸出特性:驅動模式過沖在不同電壓下有所不同,端接模式過沖為 0mV;3V 階躍下,穩定到 25mV 內的時間為 10ns,穩定到 5mV 內的時間為 20ns。
(四)比較器特性
- 直流特性:輸入電壓范圍為 - 1.5V 至 +6.5V,差分輸入電壓為 ±8V,滯后為 0mV,輸入偏移電壓 A 版本最大為 ±15mV,B 版本最大為 ±100mV。
- 交流特性:最小脈沖寬度在不同型號下有所不同,傳播延遲典型值為 2.2ns。
(五)其他特性
- 溫度監測:在 TJ = +70°C 時,標稱電壓為 3.43V,溫度系數為 +10mV/°C。
- 串行接口時序:SCLK 頻率最大為 50MHz。
四、應用領域
- 閃存測試儀:高速、低功耗的特性使其能夠滿足閃存測試的需求。
- 商品 DRAM 測試儀:可對 DRAM 進行高效測試。
- 低成本混合信號/片上系統測試儀:適用于各種低成本測試系統。
- 有源老化系統:在老化測試中發揮重要作用。
- 結構測試儀:可用于對設備結構進行測試。
五、訂購信息
MAX9963/MAX9964 提供多種型號,工作溫度范圍為 0°C 至 +70°C,采用 100 引腳、14mm x 14mm 封裝,引腳間距為 0.5mm 的 TQFP 封裝,部分型號帶有暴露的管芯焊盤,方便散熱。
六、總結
MAX9963/MAX9964 以其小尺寸、低功耗、高速、低色散等諸多優點,為電子測試領域提供了一個優秀的解決方案。無論是在閃存測試、DRAM 測試還是其他測試應用中,都能展現出出色的性能。電子工程師在設計測試設備時,不妨考慮這款芯片,相信它能為你的設計帶來更多的便利和優勢。你在實際應用中是否遇到過類似芯片的使用問題呢?歡迎在評論區分享你的經驗和見解。
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