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如何釋放功率器件性能的散熱設計

羅姆半導體集團 ? 來源:羅姆半導體集團 ? 2026-04-03 09:55 ? 次閱讀
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以SiC-MOSFET為代表的新一代功率器件,憑借超越傳統器件的高耐壓、低導通電阻及高速開關特性,為顯著提升電力轉換效率和實現系統小型化作出貢獻。然而,隨著芯片尺寸縮小,“功率密度(單位面積發熱量)”的增加不可避免,如何高效的將產生的熱量導入冷卻系統,成為充分釋放器件潛能的關鍵所在。

評估實施背景

本應用說明筆記展示了ROHM的SiC-MOSFET與信越化學工業最新TIM(Thermal Interface Material)技術組合使用時的熱阻評估結果。在應用說明筆記《關于絕緣片熱阻的注意事項》中,我們闡述了在選擇絕緣片時,不僅要考慮片材本身的導熱系數,還需重視接觸界面產生的“接觸熱阻”的重要性。本次評估的“TC-30TAG-8-PGA/TC-30TAG-8-PGA-W”解決方案,通過將高導熱片材與熱軟化層(下稱PGA層)組合,可穩定降低該接觸熱阻。

評估用TIM的特點

本次評估采用了信越化學工業生產的高硬度散熱片“TC30TAG-8”及其衍生產品系列。同時將多用途低硬度墊片(TC100CAD-10)作為對比對象進行評估。

? TC-30TAG-8:

0.3mm厚玻璃纖維布增強高硬度板材

PGA層(特殊黏著層):

在室溫下具有粘附性,有助于自動貼裝;而在工作溫度范圍內軟化,實現接近導熱膏的界面接觸的特殊功能層

? TC-30TAG-8-PGA:

單面附著PGA層(30μm)

? TC-30TAG-8-PGA-W:

在兩面附著PGA層(30μm×2)

※ 實驗制備了雙面均設有熱軟化層的樣品,用于性能評估。

技術要點:

傳統高硬度墊片在貼合散熱器或器件表面微小凹凸時,貼合性較差,導致接觸熱阻偏高。PGA層受熱后會軟化流動,通過填充這些空隙(氣隙)來最大限度降低接觸熱阻。

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Figure 1.評估用TIM的結構示意圖

安裝和設計的注意點

PGA層預熱處理

緊固扭矩管理

絕緣距離的確保

長期可靠性驗證

總結

通過羅姆的SiC-MOSFET與信越化學工業的TC-30TAG-8系列組合使用,已證實可大幅提升散熱系統的性能。設計者可根據應用優先級選擇是否采用PGA層,從而實現最優熱設計:既可兼顧接觸熱阻以追求“最小熱阻”,也可側重“量產時的穩定性與可操作性”。

正如本次評估所示,PGA層的存在與否在散熱性能與可操作性之間存在權衡關系。設計者應基于應用的熱設計余量和封裝工藝要求,綜合評估并選定最優規格。此外,在實際設計階段,強烈建議在真實設備環境中進行充分驗證。

聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規問題,請聯系本站處理。 舉報投訴
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原文標題:資料下載 | 釋放功率器件性能的散熱設計:熱軟化層絕緣墊片的熱阻評估與選型檢討案例

文章出處:【微信號:羅姆半導體集團,微信公眾號:羅姆半導體集團】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。

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