測試設(shè)備：函數(shù)信號發(fā)生器、功率放大器、數(shù)字萬用表、ATA-5210前置微小信號放大器、鎖相放大器等。

圖：試驗平臺原理圖

實驗過程：函數(shù)發(fā)生器輸出正弦激勵信號，一路作為參考信號輸入鎖相放大器，另一路經(jīng)功率放大器放大（數(shù)字萬用表監(jiān)控放大后的電流）。放大后的信號輸入激勵線圈產(chǎn)生一次磁場，導(dǎo)體感應(yīng)出渦流并生成反向的二次磁場，兩者合成交變合磁場。信號拾取線圈采集合磁場生成信號，經(jīng)前置放大器放大后，與參考信號在鎖相放大器中運算，得到實部、虛部及R值（實虛部平方和開根號），數(shù)據(jù)由電腦存儲。

實驗結(jié)果：檢測90°裂紋時，M6-K3傳感器在各激勵頻率下跨阻抗峰峰值最大，為最優(yōu)傳感器；檢測0°裂紋時，1000kHz頻率下M6-K3性能最優(yōu)。

圖：ATA-5000系列前置微小信號放大器

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