S11 表示在port 1 的反射損耗(return loss)，值越接近0 越好(越低越好，一般-25~-40dB)，表示傳輸路徑中反射(reflection)越小，也稱為輸入反射系數(shù)(Input Reflection Coefficient)，如S11為-25dB，則算出來的Vreflection約為輸入信號的6.3%，如S11為-10dB，則Vreflection約為輸入信號的30%.

S21 表示信號從port 1 傳遞到port 2 過程中的插入損耗(insertion loss)，值越接近1 越好(0dB)，表示傳遞過程損失(loss)越小，S21=-3dB意味著，約70%的輸入信號傳遞到了輸出端.

我們經(jīng)常用到的單根傳輸線，或一個過孔，就可以等效成一個二端口網(wǎng)絡，一端接輸入信號，另一端接輸出信號，如果以Port1作為信號的輸入端口， Port2作為信號的輸出端口，那么S11表示的就是回波損耗，即有多少能量被反射回源端（Port1），這個值越小越好，一般建議S11< 0.1，即－20dB；S21表示插入損耗，也就是有多少能量被傳輸?shù)侥康亩耍≒ort2）了，這個值越大越好，理想值是1，即0dB，S21越大傳輸?shù)男试礁撸话憬ㄗhS21>0.7，即－3dB。

S11和S21是最常使用的兩個參數(shù)，除此之外，還有S22和S12，定義如下：

S22是從port2看過去的return loss，跟S11意思一樣，只是換了端口，S12表示從Port2看過去的insertion loss，跟S21相等.

寫到這，似乎已經(jīng)差不多了，然而還有我們不常提及的S31，S41.

S31和S41表示的是，兩條傳輸線發(fā)生串擾時的反射系數(shù).

S31表示近端串擾（NEXT，near end cross talk），S41表示遠端串擾（FEXT, far end cross talk）。

串音的產(chǎn)生原理

S31和S41之所以不常被提及，主要是因為通常單端信號之間，要求盡量減小串擾，在符合設計規(guī)范的板子上，S31和S41對于信號質(zhì)量影響不大，而對于差分信號，則又有差分信號的S參數(shù)來描述，把1,3兩個端口，看做是差分port1，把2,4兩個端口，看做是差分port2.

串音的產(chǎn)生原理

SDD，表示差分模式的輸入（Stimulus）和反饋（Response）之間的關(guān)系.

SCC，表示共模模式的輸入和反饋之間的關(guān)系.

SCD，表示差分訊號和共模輸出的反饋之間的關(guān)系.

SDC，表示共模訊號和差分輸出之間的響應關(guān)系.

如上圖所示，SDD11的意思是，差分激勵在差分端口port1處的差分信號reflection loss。

SDC21的意思是，差分激勵在差分端口port1處看到的共模信號的inserssion loss.

傳統(tǒng)的網(wǎng)絡分析儀最多只能有4個端口，所以測試得到的S參數(shù)也只能是4端口的，也就是最多一次只能測試一對差分對（不過現(xiàn)在有多端口網(wǎng)絡分析儀PXI可以解決多端口網(wǎng)絡的測試），對于高速電路仿真而言，如果需要考慮傳輸線之間的串擾，傳統(tǒng)網(wǎng)絡分析儀測試得到的S參數(shù)就不能直接使用，但是可以通過工具進一步的合成處理，這樣就能考慮到串擾的影響啦，但是在實際測量中，如果手頭的ENA網(wǎng)絡分析儀只有兩個物理端口，怎么測量差分對(4個物理端口)的S參數(shù)呢？

實際上可以通過測量這四個端口兩兩之間的S參數(shù)，然后計算得出，如：

目前線纜的主要電氣性能不良項目

以下項目是目前量測經(jīng)常遇到的不良項次

實際量測數(shù)據(jù)報告之SCD21（共模輸出）-SDD21（差模輸出）

SCD21 NA SCD21 Diff To Comm Convert，單端轉(zhuǎn)共模測試(差模轉(zhuǎn)共模損耗）

SCD21為端口1至端口2的差模-共模轉(zhuǎn)換

SDD21 為端口1至端口2的差模傳輸

差模共模轉(zhuǎn)換，也就是說，在傳輸差模信號時，信號受到干擾，在接收端信號被誤判為共模信號；差模信號轉(zhuǎn)化為共模信號，就是指差模共模轉(zhuǎn)換了（理論上是越少越好）主要是描述測試對線間兩根訊號線的對稱性（或者叫平衡性，電磁耦合好壞的差異），和線對的衰減（ Insertion Loss ），延遲差（ Intrapair Skew)有關(guān).

雖然從量測最終結(jié)果的表現(xiàn)為PASS,但是實際對間差異過大，掃頻測試會對其他對數(shù)的其他參數(shù)產(chǎn)生影響，是一環(huán)套一環(huán)的存在，當我們對著大山呼喊的時候，我們理解的回音就是一個存在的差模轉(zhuǎn)共模的損耗案例.

典型不良表現(xiàn)

Return Loss SDD22

Return Loss SDD22；RL是回波損耗的簡稱，是數(shù)字電纜產(chǎn)品的一項重要指標，電纜鏈路由于阻抗不匹配所產(chǎn)生的反射，是一對線自身的反射。不匹配主要發(fā)生在連接器的地方，但也可能發(fā)生于電纜中特性阻抗發(fā)生變化的地方，所以施工的質(zhì)量是減少回波損耗的關(guān)鍵。回波損耗將引入信號的波動，返回的信號將被雙工的千兆網(wǎng)誤認為是收到的信號而產(chǎn)生混亂.

典型不良表現(xiàn)

影響SDD22回波損耗的制程因素﹕

導體均勻性﹑絕緣均勻性﹑發(fā)泡度均勻性﹑結(jié)構(gòu)尺寸均勻性。

1) 導體直徑不均勻﹑導體有彎﹑導體不圓﹔

2) 絕緣芯線偏心﹑橢圓﹑線徑不均勻﹔

3) 發(fā)泡度不均勻﹔

4) 編織與外被的松緊也可引起回波的產(chǎn)生﹔工藝改善: 芯線制做均勻,導體圓整度,絕緣偏心度,收放線張力穩(wěn)定.

Insertion Losss

Insertion Losss；高頻電子訊號在傳動時由于基本材料電阻，產(chǎn)生訊號強度(電壓)降低以外，尚有因高頻引發(fā)的Impedance，導致電子訊號強度再被降低,基本電阻的衰減取決于導體材質(zhì)可稱直流衰減,電容電感的衰減取決于頻率高低可稱交流衰減，且頻率越高此衰減越嚴重.

典型不良表現(xiàn)

趨膚效應和介電損耗是造成電纜高頻損耗的主要原因

趨膚效應損耗(單位為dB)與電纜長度及頻率的平方根成正比；

介電損耗(單位為dB)與電纜長度及頻率成正比。

趨膚效應損耗主要來自于中、低頻，

介電損耗主要來自于高頻。

高頻電流流過導體時，電流會趨向于導體表面分布，越接近導體表面電流密度越大。這種現(xiàn)象就是趨膚效應。頻率越高，電流就越集中在導體表面，可以想象，當頻率足夠高時，電流幾乎只分布在導體表面上薄薄的一層，導體內(nèi)部幾乎沒有電流

影響Insertion Losss的制程因素﹕

電線主要分為兩種，一種為同軸系列，一種為對絞系列

對屏蔽厚度﹕ 鋁箔厚度增加—衰減減小﹔ 鋁箔厚,繞包時不容易繞緊﹐可導致高頻衰減跳動。

成纜節(jié)距: 成纜節(jié)距增大—衰減減小﹔

總屏蔽: 屏蔽厚度及密度增加—衰減減小﹔

對內(nèi)延時差大—衰減偏大。

設計改善:衰減偏大,加大導體線徑,加大絕緣線徑,加大發(fā)泡度,更改絕緣材料.(降低介質(zhì)損耗角正切)

工藝改善:芯線押出時盡量圓整,發(fā)泡度均勻,水中電容調(diào)小

材料衰減：有電壓的情況下,分子會產(chǎn)生擺動,擺動會產(chǎn)生熱 量,即而把部分能量轉(zhuǎn)化為熱能.

導體衰減：導體會發(fā)熱,消耗的為熱能

反射衰減：遇到材料不均勻點

生產(chǎn)制造對參數(shù)的影響

導體工序

芯線工序

對絞包帶/包帶工序

總絞工序