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KEMET HRA系列SMD MLCCs:高可靠性電容的理想之選

h1654155282.3538 ? 2025-12-15 13:50 ? 次閱讀
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KEMET HRA系列SMD MLCCs:高可靠性電容的理想之選

在電子設備設計領域,電容作為關鍵元件,其性能和可靠性直接影響著整個系統的穩定性和性能表現。KEMET的High Reliability Alternative (HRA)系列表面貼裝多層陶瓷片式電容器(SMD MLCCs),憑借其卓越的性能和高可靠性,成為眾多工程師在設計高可靠性應用時的理想選擇。

文件下載:KEMET 高可靠性替代產品 (HRA) 系列MLCC.pdf

一、產品概述

KEMET的HRA系列專為滿足傳統MIL - SPEC產品中無法提供的電容值的高可靠性應用需求而設計、測試和篩選。該系列采用了KEMET專利的賤金屬電極(BME)技術,X - Level HRA系列的電容值相比MIL - PRF - 32535標準產品可高達五倍,有助于減少電路板空間,順應了小型化的發展趨勢。此外,與汽車和商用現貨(COTS)等級的產品相比,這些MLCC采用了更堅固的設計,并經過電壓調節和批次放行測試。除標準端接選項外,HRA系列還提供柔性端接選項。

二、產品優勢

(一)先進技術與材料

  1. 專利BME技術:帶來更高的電容值,使產品在有限的空間內實現更大的電容存儲能力。
  2. X7R電介質:具有良好的溫度穩定性,在 - 55°C至 + 125°C的工作溫度范圍內,能保持較為穩定的電容性能。

(二)嚴格測試與認證

  1. 電壓調節和電氣測試:按照MIL–PRF–32535(5% PDA)進行電壓調節和電氣后測試,確保產品的電氣性能符合高標準。
  2. 偏壓濕度測試:依據MIL–STD–202進行85°C/85%的偏壓濕度測試,驗證產品在潮濕環境下的可靠性。
  3. 批次放行測試和追溯:進行批次放行測試,并且支持批次追溯,還可提供單個批次日期代碼,方便質量管控和問題追溯。

(三)廣泛的參數選擇

  1. 電壓和電容范圍:直流電壓額定值有4 V、6.3 V、10 V、16 V、25 V、50 V和100 V可選;電容值范圍從39 pF到22 μF,且提供±5%、±10%和±20%的電容公差。
  2. 端接和鍍層選項:有標準和柔性端接選項,鍍層有100%霧錫、SnPb(最低含5% Pb)和最低100μ英寸的金(Au)鍍層可供選擇。

三、應用領域

該系列電容適用于多種應用場景,如去耦、旁路、濾波和瞬態電壓抑制等。在這些應用中,HRA系列電容能夠有效穩定電路中的電壓和電流,濾除雜波干擾,保護電路免受瞬態電壓的沖擊,確保設備的穩定運行。

四、訂貨信息與規格

(一)訂貨代碼解析

HRA系列的訂貨代碼包含多個部分,如系列、尺寸、電容代碼、電容公差、額定電壓、電介質、失效率、端接鍍層和包裝等信息。通過詳細的訂貨代碼,工程師可以準確選擇所需的電容產品。例如: CHA 04 C 104 K 3 R X L XXXX
Series Case Size (L"xW") Specification/ Series23.4.5 Capacitance Code(pF) Capacitance Tolerance Rated Voltage(V) Dielectric Failure Rate Termination Finish1 Orientation and Packaging (Suffx/C - Spec)

(二)電容范圍選擇

文檔提供了不同尺寸(0402 - 0805、1206 - 2220等)在不同電壓和電容公差下的電容范圍選擇表,工程師可以根據具體的設計需求,快速查找合適的電容值和規格。

(三)尺寸規格

詳細給出了不同EIA尺寸代碼對應的電容的長度、寬度、厚度、帶寬和間距等尺寸信息,以及不同密度等級下的芯片電容焊盤圖案設計建議,為電路板布局設計提供了準確的參考。

五、焊接與工藝

(一)焊接技術建議

對于EIA 0603、0805和1206尺寸的產品,可采用波峰焊或回流焊;其他EIA尺寸則僅適用于回流焊。在回流焊過程中,建議對這些組件進行預熱,以避免極端熱應力。

(二)回流焊曲線

KEMET推薦的對流和紅外回流焊曲線符合IPC/JSTD - 020標準的濕度敏感性測試條件,這些設備在這些條件下最多可承受三次回流焊。不同端接鍍層(SnPb和100%霧錫)的回流焊曲線參數有所不同,如預熱/浸泡溫度、升溫速率、液相溫度、高于液相時間、峰值溫度等。

六、性能與可靠性測試

文檔詳細列出了HRA系列電容的各項性能和可靠性測試方法及條件,包括外觀和機械檢查、電容、損耗因數、絕緣電阻、電容溫度系數、介電耐壓、老化率、端子強度、電路板彎曲、可焊性、溫度循環、偏壓濕度、高溫壽命、振動和機械沖擊等測試。通過這些嚴格的測試,確保產品在各種環境和工作條件下都能保持穩定可靠的性能。

七、存儲、處理與包裝

(一)存儲與處理

陶瓷片式電容器應存儲在正常工作環境中。高溫、高濕度、腐蝕性氣氛和長期存儲會降低其可焊性,同時高溫還會損壞包裝材料。KEMET建議最大存儲溫度不超過40°C,最大存儲濕度不超過70%相對濕度,并盡量減少溫度波動,避免部件上出現冷凝現象,存儲環境應無含氯和含硫化合物。為保證最佳可焊性,芯片庫存應盡快使用,最好在收到后的1.5年內使用。

(二)包裝信息

  1. 磁帶和卷軸包裝:KEMET提供符合EIA標準481的多層陶瓷片式電容器,采用8、12和16 mm磁帶包裝在7"和13"卷軸上,這種包裝系統與所有磁帶式自動貼裝系統兼容。文檔還給出了不同EIA尺寸對應的載帶配置(如間距、尺寸等)以及卷軸和載帶的詳細尺寸規格。
  2. 華夫盤包裝:提供2" x 2"帶靜電保護的華夫盤包裝,針對不同尺寸的電容,給出了華夫盤的詳細尺寸信息和包裝數量。

KEMET的HRA系列SMD MLCCs以其先進的技術、嚴格的測試、廣泛的參數選擇和多樣化的包裝形式,為電子工程師在高可靠性應用設計中提供了可靠的電容解決方案。在實際設計過程中,工程師可以根據具體的應用需求和設計要求,合理選擇合適的產品規格,并嚴格遵循焊接、存儲和處理的建議,以確保系統的性能和可靠性。你在使用這類電容進行設計時,遇到過哪些問題呢?歡迎在評論區分享交流。

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