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解決方案丨以光譜共焦技術破解光學膜材測量痛點,助力 AR/VR/XR 體驗革新

Phoskey ? 來源:光子精密PHOSKEY ? 作者:光子精密PHOSKEY ? 2025-12-04 08:10 ? 次閱讀
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偏振片(也稱為偏光膜或偏光片)在AR/VR/XR眼鏡中實現著提升圖像清晰度與對比度,過濾雜亂光線,優化視覺效果,實現立體視覺等重要作用。

而在偏振片生產過程中,厚度是最基礎且關鍵的尺寸指標。當前傳統檢測方式面臨挑戰:

×接觸損傷風險:傳統接觸式測量易劃傷光學膜層

× 數據可靠性低:高反光與透明層疊結構使傳統光學測量受干擾

×多層測量難:偏振片的多層復合結構使單層厚度測量困難

× 生產效率低:難以適配高速產線實時質量監控需求,抽樣檢測易因漏檢導致批量不良

光子精密高精度厚度檢測方案 wKgZPGkw0oeAdFSiAAkFV9YAaHA303.png 檢測架構

針對生產過程中對高效高精度厚度檢測的迫切需求。光子精密提出基于CD-5000系列光譜共焦位移傳感器的厚度檢測方案,并已在典型客戶現場完成驗證,為客戶實現從抽樣到全檢的質控升級。

01 檢測需求 wKgZPGkw0oeAHRN9ABEDd64WMVo237.png 檢測樣品

測量項目:偏振片厚度(含透明薄膜)

工件特性:多層復合結構,含高反光、透明膜層

精度要求:重復性≤0.02mm

速度要求:≥100kHz

02 方案優勢

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?無損測量:非接觸式測量避免膜層劃傷,檢測合格率顯著提升。

?多層測量技術:可識別5層透明/半透明介質厚度,滿足復合結構工藝需求。

?數據可靠穩定:±0.35μm線性度與多重抗干擾技術可將誤差穩定在0.2mm以下。

?效率全面躍升:260kHz采樣頻率,適配高速產線檢測需求。

03 方案架構與原理

兩組CD-5000光譜共焦傳感器上下對射布置于測量區,配合膜片水平運動實現快速多點測量。

此架構可消除傾角影響,即使膜片輕微翹曲/傾斜,也可直接獲取真實厚度,無需傾角補償。

wKgZPGkw0oiAQ0NUAAr7F6F0yaA569.png 實測過程圖 經編碼器或定時觸發,傳感器以100kHz頻率對膜片9個點位快速采集,控制器實時接收數據并計算厚度值,同步輸出最大/最小/平均值/差值。 檢測結果:9個點位10次測量最大極差僅0.0016mm。 wKgZPGkw0oiATqZhAAbZfQcPPS0172.png 實測數據(單位:mm)

04 應用落地:全工序檢測覆蓋

1)原材料來料檢驗

可對來料進行快速、無損的精密測量,確保檢測率提至99.99%。

2)核心工藝厚度變化監控

批量生產中,集成多傳感器于檢測臺,一次性完成厚度、平面度、翹曲度等多參數測量,數據自動判斷并記錄,實現全流程質量追溯。

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3)模切/精密切割后(最終成品檢驗)

對切割成AR/VR/XR眼鏡所需形狀和尺寸的單片偏振片成品進行厚度檢測與數據報表導出。

若您的產線正面臨偏振片、反射片、Pancake透鏡等光學膜材的厚度與輪廓檢測挑戰,歡迎聯系光子精密,獲取定制解決方案與實測驗證。

實測視頻

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審核編輯 黃宇

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