ADS62Px9/x8 是一系列雙通道14位和12位A/D轉換器,采樣率最高可達250 MSPS。它將高動態性能和低功耗結合在緊湊的64 QFN封裝中。這使得它非常適合多載波寬帶通信應用。
ADS62Px9/x8 具有增益選項,可用于在較低全尺度輸入范圍內提升 SFDR 性能。它包含一個直流偏移校正環路,可用于取消ADC偏移。同時提供DDR LVDS(雙倍數據速率)和并行CMOS數字輸出接口。
它包含內部參考,而傳統的參考引腳和相關的解耦電容已被取消。不過,該設備也可以用外部參考驅動。該裝置在工業溫度范圍內(–40°C至85°C)內規范。
*附件:ads62p29.pdf
特性
- 最大采樣率:250 MSPS
- 14位分辨率 – ADS62P49/1 ADS62P48
- 12位分辨率 – ADS62P29/ADS62P28
- 總功率:1.25瓦,功率250 MSPS
- 雙數據速率(DDR)LVDS和并行CMOS輸出選項
- 可編程增益最高可編程6dB,用于信噪比/SFDR權衡
- 直流偏移校正
- 90dB串擾
- 支持輸入時鐘幅度最低至400 mV
PP微分 - 內部與外部參考支持
- 64-QFN封裝(9毫米×9毫米)
參數

方框圖

一、產品核心概述
ADS62Px9/x8 系列是德州儀器推出的高性能雙通道模數轉換器家族,包含 14 位(ADS62P49/ADS62P48)與 12 位(ADS62P29/ADS62P28)兩個分辨率版本,核心優勢為高采樣速率、寬信號帶寬與靈活的輸出接口,適用于多載波寬帶通信、雷達、軟件無線電(SDR)、高速數據采集等場景。工作溫度范圍為 –40°C 至 85°C,采用 64 引腳 QFN 封裝(9mm×9mm),模擬供電 3.15V3.6V(AVDD)、數字供電 1.7V1.9V(DRVDD),總功耗低至 1.25W(250MSPS 時),支持 DDR LVDS 與并行 CMOS 雙輸出接口,集成可編程增益、直流偏移校正、多模式電源管理等功能,滿足高頻信號高精度采集需求。
二、關鍵特性與規格
1. 核心性能參數
- 分辨率與速率 :14 位版本(ADS62P49/48)與 12 位版本(ADS62P29/28),采樣速率最高 250MSPS(ADS62P49/29)、210MSPS(ADS62P48/28);積分非線性誤差(INL)±5 LSB,差分非線性誤差(DNL)±1.3 LSB,保證單調性;偏移誤差 ±20 mV,增益誤差 ±1% FSR,溫度漂移低(偏移漂移 0.02 mV/°C)。
- 動態性能:模擬輸入帶寬 700 MHz(25Ω 源阻抗),無雜散動態范圍(SFDR)最高 89.5 dBc(20MHz 輸入),信噪比(SNR)最高 73.4 dBFS,總諧波失真(THD)最低 –88.1 dBc;通道間串擾低至 90 dB,雙音互調失真(IMD3)–85 dBFS,動態性能適配高頻寬帶信號采集。
- 輸入與量程:差分輸入電壓范圍 2Vpp(0dB 增益),可編程增益 0dB~6dB(0.5dB 步進),增益提升可優化 SFDR 性能;輸入共模電壓 1.5V±0.1V,輸入差分電阻 > 1MΩ,差分電容 3.5pF,支持低至 400mVpp 差分時鐘輸入。
- 功耗與接口:模擬供電電流 280mA
350mA,數字供電電流(LVDS 模式)122mA175mA;全局掉電功耗低至 45mW,通道待機喚醒時間 1ms;支持 2 補碼 / 偏移二進制數據格式,輸出延遲 22 個時鐘周期,孔徑抖動 145 fs rms。
2. 核心功能
- 工作模式:雙通道獨立采樣,支持低速率模式(≤80MSPS)與多路復用輸出模式(CMOS 接口專屬,≤65MSPS);增益可編程,通過犧牲部分 SNR 換取 SFDR 提升,適配不同信號幅度場景。
- 校正功能:內置直流偏移校正環路,可校正 ±10mV 偏移,校正時間常數可編程(256k~512M 時鐘周期),支持添加偏移基座(±32 LSB),確保零漂穩定性。
- 輸出接口:DDR LVDS 接口(最高 250MSPS),每對差分線傳輸 2 位數據,時鐘頻率為采樣速率的 1/2;并行 CMOS 接口(最高 210MSPS),單引腳傳輸 1 位數據,支持單獨捕獲時鐘配置。
- 電源管理:支持全局掉電、單通道待機、輸出緩沖禁用等多模式功耗控制,時鐘頻率低于 1MSPS 自動進入低功耗模式,適配不同功耗需求場景。
三、封裝與引腳
1. 封裝信息
- 64 引腳 QFN 封裝:尺寸 9mm×9mm×1mm,引腳間距 0.5mm;結到環境熱阻 23.0°C/W,結到板熱阻 4.2°C/W,底部裸露焊盤需焊接至接地平面,兼顧散熱與電氣性能;MSL 等級 3,支持 260°C 回流焊(168 小時濕度預處理)。
2. 關鍵引腳功能
- 電源與地:AVDD(模擬供電)、DRVDD(數字輸出緩沖供電);AGND(模擬地)、DRGND(數字地),多組地引腳需分別連接對應地平面,保證接地阻抗一致。
- 模擬輸入:INP_A/INM_A、INP_B/INM_B(雙通道差分模擬輸入);VCM(共模電壓輸出 / 外部參考輸入,內部參考模式下輸出 1.5V)。
- 時鐘與同步:CLKP/CLKM(差分采樣時鐘輸入,支持正弦波、LVPECL、LVDS、LVCMOS 信號);CLKOUTP/CLKOUTM(LVDS 差分輸出時鐘)、CLKOUT(CMOS 單端輸出時鐘)。
- 控制與接口:RESET(復位輸入)、SCLK/SDATA/SEN(串行配置接口)、CTRL1
CTRL3(電源管理控制引腳);LVDS 數據輸出(DAxP/DAxM、DBxP/DBxM)或 CMOS 數據輸出(DA0DA13、DB0~DB13)、SDOUT(串行寄存器讀回輸出)。
四、工作模式與核心功能
1. 核心工作模式
- 采樣與增益模式:雙通道同步采樣,增益 0dB~6dB 可編程,增益提升時輸入滿量程按比例縮小(6dB 增益時滿量程 1Vpp),實現 SNR 與 SFDR 權衡。
- 輸出接口模式:DDR LVDS 模式適合高速傳輸(最高 250MSPS),差分傳輸降低干擾;CMOS 模式適合低速場景(最高 210MSPS),布線簡單;多路復用模式(CMOS 專屬)可將雙通道數據合并至單總線輸出,降低引腳占用。
- 電源管理模式:全局掉電(全芯片斷電,功耗 45mW,喚醒時間 30ms)、通道待機(單通道 ADC 斷電,參考與輸出緩沖保持,喚醒時間 1ms)、輸出緩沖禁用(單獨關閉通道輸出驅動)。
2. 關鍵功能細節
- 串行配置:支持并行配置(RESET 拉高)與串行配置(RESET 拉低),串行接口最高 20MHz 時鐘,可配置增益、偏移校正、輸出格式、測試圖案等參數,支持寄存器讀回校驗。
- 測試圖案:內置全 0、全 1、交替翻轉、數字斜坡、自定義圖案等測試模式,方便鏈路調試;自定義圖案可通過寄存器設置 14 位 / 12 位固定輸出值。
- 偏移校正:啟用后自動估算并抵消通道直流偏移,校正結果可凍結保存,不影響信號相位,默認禁用,需通過寄存器開啟。
五、應用場景與設計支持
1. 典型應用
- 高頻信號采集:軟件無線電中的射頻信號直接采樣、雷達系統回波信號高速采集、寬帶通信基站的多載波信號處理。
- 數據采集系統:高速示波器、瞬態信號記錄儀、工業控制中的高頻傳感器信號采集,適配高實時性數據處理需求。
2. 設計資源
- 電源與去耦:AVDD 與 DRVDD 需獨立供電,每路供電引腳就近配置 0.1μF 陶瓷電容 + 10μF 鉭電容去耦,濾除高頻噪聲。
- 輸入驅動:模擬輸入需差分驅動,推薦串聯 5Ω~15Ω 電阻抑制寄生振蕩;低帶寬場景(<100MHz)可添加 R-C-R 濾波吸收采樣毛刺,高帶寬場景(>300MHz)建議使用傳輸線變壓器驅動。
- 時鐘設計:采樣時鐘需低抖動,差分驅動優先;支持 AC 耦合,時鐘幅度最低 400mVpp(正弦波),占空比 40%~60% 不影響性能。
- 布局要點:模擬區與數字區嚴格分離,AVDD/DRVDD 走線遠離數字時鐘線;LVDS 輸出線阻抗匹配 100Ω,差分線對長度一致;裸露焊盤大面積接地,降低熱阻。
六、可靠性與訂單信息
- 可靠性保障:ESD 防護等級(人體模型)2kV;絕對最大額定值:AVDD –0.3V
3.9V,DRVDD –0.3V2.2V,輸入電壓 –0.3V~AVDD+0.3V,結溫 125°C,滿足工業與通信設備的嚴苛要求。 - 可訂購型號:提供 14 位(ADS62P49IRGCR/IRGCT、ADS62P48IRGCR/IRGCT)與 12 位(ADS62P29IRGCR/IRGCT、ADS62P28IRGCR/IRGCT)型號,卷盤包裝(250 片 / 小卷、2000 片 / 大卷),引腳鍍層為 NIPDAUAG,符合 RoHS 標準。
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