該AFE5803是一種高度集成的模擬前端 (AFE) 解決方案,專為需要高性能和小尺寸的超聲系統而設計。該AFE5803集成了完整的時間增益控制 (TGC) 成像路徑。它還使用戶能夠選擇各種功率/噪聲組合之一,以優化系統性能。因此,AFE5803是便攜式系統適用的超聲模擬前端解決方案。
*附件:afe5803.pdf
該AFE5803包含八通道壓控放大器 (VCA)、14/12 位模數轉換器 (ADC)。VCA 包括低噪聲放大器 (LNA)、壓控衰減器 (VCAT)、可編程增益放大器 (PGA) 和低通濾波器 (LPF)。LNA 增益可編程以支持 250 mV聚丙烯至 1 V聚丙烯輸入信號。LNA 還支持可編程有源端接。超低噪聲VCAT提供40 dB的衰減控制范圍,并提高了整體低增益信噪比,有利于諧波成像和近場成像。PGA 提供 24 dB 和 30 dB 的增益選項。在 ADC 之前,LPF 可以配置為 10 MHz、15 MHz、20 MHz 或 30 MHz,以支持不同頻率的超聲應用。AFE5803中的高性能14bit/65 MSPS ADC可實現77dBFS SNR。它確保在低鏈增益下實現出色的信噪比。ADC的LVDS輸出可實現小型化系統所需的靈活系統集成。
該AFE5803采用 15mm × 9mm 135 引腳 BGA 封裝,額定工作溫度范圍為 0°C 至 85°C。 它還與AFE5807、AFE5808和AFE5808A引腳兼容。
特性
- 8通道完整模擬前端
- LNA、VCAT、PGA、LPF、ADC
- 可編程增益低噪聲放大器 (LNA)
- 24/18/12 dB增益
- 0.25/0.5/1 伏
聚丙烯線性輸入范圍 - 0.63/0.7/0.9 nV/rtHz 輸入參考噪聲
- 可編程有源端接
- 40 dB低噪聲壓控衰減器(VCAT)
- 24/30 dB可編程增益放大器(PGA)
- 3^RD^訂購線性相位低通濾波器 (LPF)
- 10、15、20、30 兆赫
- 14位模數轉換器(ADC)
- 65 MSPS 時為 77 dBFS 信噪比
- LVDS輸出
- 噪聲/功耗優化(全鏈)
- 158 mW/CH,0.75 nV/rtHz,65 MSPS
- 1.1 nV/rtHz時為101 mW/CH,40 MSPS
- 出色的器件間增益匹配
- ±0.5 dB(典型值)和 ±0.9 dB(最大值)
- 低諧波失真
- 快速一致的過載恢復
- 小型封裝:15 mm x 9 mm,135-BGA
參數
方框圖
AFE5803 是德州儀器(TI)推出的高集成度超聲模擬前端(AFE),核心優勢為 8 通道并行采集、低噪聲、高采樣率與完整信號調理鏈,專為醫療超聲成像、無損檢測設備設計,文檔版本為 SLOS763A,發布于 2012 年 1 月,采用 15mm×9mm 135 引腳 BGA 封裝,工作溫度范圍 0°C 至 85°C,與 AFE5807/5808/5808A 引腳兼容,適配便攜式與高端超聲系統。
一、核心參數與性能特性
1. 基礎規格
- 信號調理性能 :每通道集成 LNA、VCAT、PGA、3 階 LPF 與 ADC;LNA 增益可編程(12/18/24 dB),輸入參考噪聲低至 0.63 nV/rtHz(24 dB 增益);VCAT 提供 40 dB 衰減調節,PGA 增益可選 24/30 dB;LPF 帶寬可編程(10/15/20/30 MHz),適配不同超聲頻率需求。
- ADC 性能 :14 位分辨率,采樣率 10 MSPS-65 MSPS;65 MSPS 時 SNR 達 77 dBFS,THD≤-55 dBc,無丟失碼;通道間增益匹配 ±0.25 dB(典型)、器件間 ±0.5 dB(典型),保證多通道一致性。
- 接口與控制 :LVDS 差分輸出(支持 12/14/16 位格式),數據速率最高 910 Mbps(14 位 65 MSPS);SPI 串行接口(SCLK 最高 20 MHz)用于配置寄存器;支持單端 / 差分時鐘輸入,時鐘抖動 450 fs rms,保證采樣精度。
2. 供電與功耗
- 供電范圍 :模擬電源(AVDD)3.15 V-3.6 V,5V 模擬電源(AVDD_5V)4.75 V-5.5 V;ADC 模擬電源(AVDD_ADC)1.7 V-1.9 V,數字電源(DVDD)1.7 V-1.9 V,支持多電源域獨立供電。
- 功耗表現 :低噪聲模式下每通道 158 mW(65 MSPS),低功耗模式下 101.5 mW(40 MSPS);掉電模式功耗低至 0.6 mW / 通道,支持快速上電 / 掉電切換(響應時間≤2.5 ms),適配脈沖工作模式的超聲系統。
3. 集成功能特性
- 靈活輸入配置 :支持可編程有源終端(50/100/200/400 Ω 預設,可自定義阻抗);輸入線性范圍 250 mVPP-1 VPP(隨 LNA 增益變化),內置輸入鉗位電路,過載恢復快速穩定。
- 信號增強功能 :內置數字高通濾波器(HPF),截止頻率可調(50 kHz-200 kHz);支持通道平均、數字增益(0-6 dB,0.2 dB 步進)與偏移校正,優化信號質量;VCAT 支持模擬 / 數字雙控制模式,數字模式抑制控制噪聲,提升多普勒性能。
- 輔助功能 :內置 1.5 V/0.5 V 參考源(支持外部 1.4 V 參考輸入);支持單通道 / 多通道獨立掉電,寄存器配置斷電保持;集成測試模式(信號發生器、斜坡 / 固定碼輸出),便于系統調試。
4. 封裝與環境適應性
- 封裝類型 :135 引腳 BGA 封裝(15mm×9mm),結到環境熱阻 34.1 °C/W,結到板熱阻 11.5 °C/W,暴露熱焊盤需接地優化散熱,適配高密度 PCB 布局。
- 可靠性 :ESD 防護(HBM ±2000 V、CDM ±500 V);存儲溫度范圍 - 55°C 至 150°C,最大結溫 105°C,滿足醫療設備長期穩定運行需求。
二、工作模式與功能原理
1. 核心架構
采用 “LNA→VCAT→PGA→LPF→ADC→LVDS 輸出” 全鏈路信號調理架構,每通道獨立配置;通過 SPI 接口控制寄存器(ADC 寄存器 + VCA 寄存器),實現增益、帶寬、電源模式等參數調節;支持多通道同步采樣,時鐘樹網絡保證通道間采樣延遲一致性。
2. 主要工作模式
| 模式 | 核心配置 | 關鍵參數 | 適用場景 |
|---|---|---|---|
| 正常工作模式 | 全鏈路使能,按需配置增益 / 帶寬 | 采樣率 10-65 MSPS,低噪聲 / 中 / 低功耗可選 | 超聲成像、連續數據采集 |
| 部分掉電模式 | PDN_VCA/PDN_ADC 置高,保留參考電路 | 功耗 26 mW / 通道,喚醒時間≤2.5 ms | 脈沖重復頻率(PRF)低的場景 |
| 完全掉電模式 | PDN_GLOBAL 置高,全電路斷電 | 功耗 0.6 mW / 通道,喚醒時間 2.5 ms | 長時間無采樣需求場景 |
| 測試模式 | 寄存器配置測試圖案輸出 | 支持斜坡 / 全 0 / 全 1 / 自定義圖案 | 系統調試、鏈路驗證 |
3. 關鍵功能細節
- 時間增益控制(TGC) :通過 VCAT 的模擬控制電壓(VCNTL)或數字寄存器實現 40 dB 增益動態調節,響應時間≤1.5 μs,適配超聲遠近場信號強度差異補償。
- 多功耗模式 :低噪聲模式優化噪聲性能(0.75 nV/rtHz),低功耗模式優先降低功耗(1.1 nV/rtHz),用戶可根據系統需求權衡噪聲與功耗。
- LVDS 輸出靈活配置 :支持 12 位(截尾)、14 位、16 位(補零)格式,幀時鐘(1X)與位時鐘(7X/6X/8X)同步輸出,便于 FPGA/ASIC 數據采集。
三、應用場景與設計建議
1. 典型應用領域
- 醫療超聲成像設備(B 超、多普勒超聲)、工業無損檢測設備(材料缺陷檢測)、高精度多通道數據采集系統。
2. 設計關鍵要點
- 電源設計 :多電源域獨立供電,每路電源就近并聯 0.1 μF 陶瓷電容與 10 μF 鉭電容濾波;AVSS 與 DVSS 單點接地,避免數字噪聲串擾模擬電路;CM_BYP、VHIGH 引腳需≥1 μF 電容 decoupling,抑制低頻噪聲。
- 輸入與時鐘設計 :模擬輸入通過 0.1 μF 電容 AC 耦合,INM 引腳并聯 15 nF 電容設置 HPF 截止頻率;有源終端需外接 1 μF 反饋電容;時鐘采用低抖動源(如 CDCE72010),差分時鐘 AC 耦合輸入,單端時鐘需將 CLKM 接地。
- 布局與散熱 :模擬信號路徑遠離數字電路,LVDS 信號線等長布線(長度差≤3.81 mm),控制阻抗匹配;熱焊盤充分接地,避免高溫區域靠近模擬電路;電源平面分區設計,減少模擬 / 數字電源相互干擾。
- 掉電管理 :根據 PRF 動態切換部分掉電 / 正常模式,降低平均功耗;掉電前保存寄存器配置,喚醒后快速恢復,避免重復初始化。
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AFE5803 8 通道超聲模擬前端總結
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