在電子測試領(lǐng)域，I-V 曲線不僅能直觀揭示器件的電學(xué)規(guī)律，更為其性能評估提供了核心依據(jù)。近日，納米軟件借助 ATECLOUD 平臺的數(shù)據(jù)洞察能力，完成了10 個 PIN 點 I-V 曲線的測試，同時可以將多條I-V曲線進行對比分析。

測試信息：
1.被測產(chǎn)品：半導(dǎo)體芯片
2.測試儀器：數(shù)字源表
3.測試指標：I-V曲線

用戶痛點：
用戶在測試芯片的I-V曲線時，原廠的軟件只能同時滿足5個Pin點I-V曲線的測試，但目前用戶需要同時測試10個Pin點I-V曲線，并對曲線的數(shù)據(jù)進行對比分析。

解決方案：
針對用戶痛點，納米軟件利用ATECLOUD平臺，搭建了源表I-V曲線測試以及數(shù)據(jù)分析解決方案。方案支持任意PIN點數(shù)量的 I-V 曲線測試，輕松滿足企業(yè)對多個PIN點的測試結(jié)果的分析需求，為芯片性能評估提供數(shù)據(jù)支持。

ATECLOUD平臺優(yōu)勢：
1.零代碼開發(fā)，無需專業(yè)編程技能即可搭建測試流程。
2.自定義數(shù)據(jù)報告一鍵導(dǎo)出，支持動態(tài)數(shù)據(jù)綁定，15 秒生成專業(yè)報告。
3.大數(shù)據(jù)智能分析，打破數(shù)據(jù)孤島，實現(xiàn)測試閉環(huán)。
4.支持與ATE 程序、MES、ERP 等系統(tǒng)對接以及 AI 算法、非標設(shè)備的插件拓展。
5.已持續(xù)兼容是德、泰克、R&S、優(yōu)利德、普源等國內(nèi)外主流設(shè)備，用戶靈活拓展。

審核編輯 黃宇