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季豐電子ESD實驗室新增VFTLP測試能力

上海季豐電子 ? 來源:上海季豐電子 ? 2025-05-21 15:21 ? 次閱讀
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工藝微縮下的ESD挑戰,CDM防護成關鍵?。

隨著半導體工藝節點不斷向5nm、3nm邁進,芯片內部結構日趨精密,靜電放電(ESD)問題愈發嚴峻。傳統人體放電模型(HBM)和機器模型(MM)失效占比逐漸降低,而?充電器件模型(CDM)?因其極快放電速度和高電流峰值,已成為芯片ESD失效的“頭號殺手”。據統計,CDM導致的失效占比已超過60%,尤其在高速、高密度集成電路中,防護設計面臨前所未有的挑戰。

?為什么VFTLP技術至關重要??

傳統TLP(傳輸線脈沖測試)技術被廣泛用于HBM防護器件的研發驗證,但其脈沖寬度(納秒級)難以精準模擬CDM事件中的超快瞬態特性(皮秒級)。而?VFTLP(超快傳輸線脈沖測試)?通過生成極快上升時間(<1ns)、超高電流(數十安培)的脈沖信號,可真實復現CDM放電場景,幫助工程師:

● 精準評估防護器件,在CDM應力下的觸發速度、電流泄放能力;

● 識別防護結構中的“薄弱點”,優化設計避免閂鎖效應和熱失效;

● 縮短芯片ESD防護方案的研發周期,提升一次流片成功率。

季豐ESD實驗室VFTLP服務亮點?

為助力客戶攻克先進工藝下的CDM難題,季豐電子ESD實驗室正式推出?VFTLP測試與分析服務?,覆蓋從研發到量產的全生命周期需求:

1全參數測試能力?

● 脈沖寬度:1.25ns~1000ns,支持CDM、HBM,IEC等多種模型模擬

● 電壓范圍:0.5V~2500V,電流峰值高達50A

● 支持IV特性曲線、失效閾值、時域波形等多維度分析

2應用場景全覆蓋?

● 晶圓級/封裝級器件CDM防護性能驗證

● 高速接口USB/HDMI/SerDes)、射頻芯片、車規級芯片等高敏感電路ESD設計優化

● 先進封裝(2.5D/3D IC、Chiplet)的ESD協同仿真數據支撐

3技術優勢:為何選擇季豐??

● ?尖端設備?:采用業界領先的VFTLP測試系統Celestron,支持超快脈沖生成與高精度數據采集;

● 專家團隊?:15年以上ESD測試經驗的工程師團隊,提供從測試到失效分析的深度解讀;

● ?數據權威性?:測試結果符合JEDEC、AEC-Q100等國際標準,助力產品通過車規、工業級認證

● 快速響應?:7×24小時服務支持,3個工作日內交付完整測試報告。

?● 客戶價值:從設計到量產的ESD保障?

● ?縮短研發周期?:通過VFTLP提前識別CDM風險,減少流片迭代次數;

● ?提升可靠性?:優化防護結構,確保芯片在極端靜電環境下穩定工作;

● ?降低成本?:避免因ESD失效導致的批量召回風險;

● ?技術賦能?:提供設計建議,幫助客戶構建自主ESD防護IP庫。

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季豐電子

季豐電子成立于2008年,是一家聚焦半導體領域,深耕集成電路檢測相關的軟硬件研發及技術服務的賦能型平臺科技公司。公司業務分為四大板塊,分別為基礎實驗室、軟硬件開發、測試封裝和儀器設備,可為芯片設計、晶圓制造封裝測試、材料裝備等半導體產業鏈和新能源領域公司提供一站式的檢測分析解決方案。

季豐電子通過國家級專精特新“小巨人”、國家高新技術企業、上海市“科技小巨人”、上海市企業技術中心、研發機構、公共服務平臺等企業資質認定,通過了ISO9001、 ISO/IEC17025、CMA、CNAS、IATF16949、ISO/IEC27001、ISO14001、ISO45001、ANSI/ESD S20.20等認證。公司員工超1000人,總部位于上海,在浙江、北京、深圳、成都等地設有子公司。

聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規問題,請聯系本站處理。 舉報投訴
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原文標題:重磅升級 | 新增VFTLP測試能力,賦能先進工藝芯片CDM防護設計

文章出處:【微信號:zzz9970814,微信公眾號:上海季豐電子】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。

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