中國北京2018年3月28日 – 全球領先的測量解決方案提供商——泰克科技公司日前為DSA8300采樣示波器推出兩款最新的光模塊，提供了業內最高的靈敏度和最低的噪聲，增強了制造商提高生產能力、改善400G設計投入生產的良率的信心。泰克還宣布加強對最新400G PAM4 TDECQ測量的支持，推出4通道并行優化處理軟件，實現高吞吐量制造測試。

在剛剛結束的OFC光網絡和通信展覽會上，泰克演示了最新模塊和功能以及用于100G/400G光學表征和驗證的全套解決方案。泰克還為DPO70000SX實時示波器推出新的56GBd單模光學探頭。

“隨著400G設計投入生產，我們的客戶正在尋求改善制造良品率和測試成本的方法，這些方法都始于對測試結果的信心，以及快速準確地將好元件與壞元件分開的能力。”泰克科技公司高性能示波器總經理Sarah Boen說，“憑借業內最低的噪聲和最高的靈敏度，我們的解決方案提供了深入的洞察力，改善了光器件和互連的良品率和吞吐量。”

當安裝在DSA8300采樣示波器中時，專為56 GBd PAM4和NRZ開發的80C20和80C21 光模塊提供了9μW的光學噪聲，這是業內最好的噪聲性能。雙通道80C21使光學制造測試工程師可以把吞吐量和容量提高一倍。如果器件未通過測試，泰克將提供一套完善的增強型PAM4分析工具，分解信號中的噪聲和抖動成分，幫助工程師了解底層問題。

為了滿足數據中心對更高帶寬的需求，光通信行業正在迅速轉向400G和PAM4。然而，由于信噪比較低，信號幅度降低以及測試次數增加10倍以上，制造工程師面臨的挑戰是保持每個器件低測試成本。泰克基于DSA8300的采樣解決方案提供了業內最高的帶寬、最高的靈敏度和更短的測試時間，幫助工程師降低測試成本。