有關吉時利的4200-PA型半導體參數分析儀：

是用于實驗室級的器件直流參數測試、實時繪圖與分析的系統，具有高精度和亞fA級的分辨率。它提供了最先進的系統集成能力，包括完整的嵌入式PC機，Windows操作系統與大容量存儲器。其自動記錄、點擊式接口加速并簡化了獲取數據的過程，這樣用戶可以更快地開始分析測試結果。其它一些特征使得應力測量功能能夠滿足各種可靠性測試的需求。

首先參數查看，快速清晰
4200-PA提供了同步電流電壓曲線測試（I-V曲線測試）、電容-電壓曲線測試（C-V曲線測試）以及超快脈沖I-V曲線測量，使得參數查看既快速又清晰。

有關測量速度，效率提升的方法
從設置到運行檢定測試的時間減少高達50%，實現無與倫比的測量和分析能力。嵌入式測量專業知識提供無與倫比的測試指導，讓您對最終結果充滿信心。

測量： 高級測量硬件，功能強大
用于DC IV、CV和脈沖IV測量類型的高級測量硬件，確保了測量的準確性和可靠性。 自動實時參數提取、數據繪圖、分析函數
自動實時參數提取、數據繪圖和分析函數，讓您能夠輕松應對各種復雜的測量任務。

準確的C-V表征
使用吉時利最新的電容-電壓單元（CVU）4215-CVU，可在1 kHz至10 MHz的頻率下進行低噪聲電容測量，實現準確的C-V表征。

模式：多通道切換模塊，靈活高效
4200A-CVIV多通道切換模塊自動在I-V和C-V測量之間切換，無需重新布線或抬起探頭端部。四通道4200A-CVIV顯示器提供本地可視查看，可快速完成測試設置，并在出現意想不到的結果時輕松排除故障。

審核編輯 黃宇