離子污染物的定義與影響

附著在產品表層、未經過徹底清潔處理的殘留物被叫做離子污染物。當這些殘留物暴露于潮濕環境時，它們會轉化為帶電的離子。這些殘留物可能來源于多種源頭，包括電鍍所用的化學藥水、焊接過程中使用的助焊劑、用于清潔產品的溶劑，以及人體接觸時留下的汗液等。

控制離子污染的重要性

控制離子污染度對于保證電子產品的可靠性至關重要。殘留的離子污染物在環境變化時可能會改變電子產品表面的絕緣阻抗，導致產品意外失效。同時，這些離子污染物還會加速線路的腐蝕，影響產品的壽命。

離子污染物的分類

1. 陽離子：包括鋰離子、鈉離子、銨根離子、鉀離子、鎂離子、鈣離子等六種。

2. 陰離子：包括氟離子、氯離子、亞硝酸根離子、溴離子、硝酸根離子、磷酸根離子、硫酸根離子等七種。

3. 弱有機酸：包括甲酸、乙酸、己二酸、丁二酸、蘋果酸、谷氨酸、甲基磺酸、鄰苯二甲酸等八種。

離子污染的測試方法

1. ICP測試：ICP測試能夠精確測試離子，但成本較高，且僅限于元素離子測試，無法測試無機酸根離子和有機酸根離子。

2. SIR環境測試：SIR測試，即表面絕緣電阻測試，主要用于評估印制電路板、組件表面及周圍線路區域的清潔度，以及產品使用物料的耐SIR能力。但這種方法無法對污染離子進行定性、定量測試。

3. 離子污染測試儀：這類測試儀可以在潮濕空氣中檢測離子形式的殘留物，分為動態測試和靜態測試，但不能對污染離子進行定性、定量測試。

4. IC測試 – 離子色譜儀測試：離子色譜儀測試能夠精確定性、定量地測試各種污染離子，包括上述提到的陽離子、陰離子和弱有機酸。

離子清潔度的測試標準與流程

離子清潔度的測試標準通常遵循IPC-TM-650 2.3.28B，該標準使用單位表面積含有某種離子的質量來表征離子清潔度（μg/inch2 或 μg/cm2）。金鑒實驗室嚴格遵循這一標準，結合自身的技術優勢，為客戶提供精準的離子清潔度評估，幫助企業優化產品設計和生產工藝。