蔡司代理三本精密儀器小編介紹掃描電子顯微鏡作為最常見的電子顯微儀器之一，不僅在微觀形貌表征方面大放異彩，也在各種元素表征、晶相分析、原位測試等領域有著諸多應用，已經成為微區分析的重要手段。

一、高分辨能力
蔡司熱場發射掃描電子顯微鏡(ZEISS, Sigma 500)采用肖特基型熱場發射電子槍及GEMINI光學系統設計，電子束能量均勻穩定，在保證成像分辨能力同時還能產出足夠強的信號用于呈現較高的成像質量，目前廣泛應用于材料科學、地球科學和生命科學等領域。

蔡司場發射電鏡sigma
其關鍵性能指標如下：
加速電壓：20V~30kV;
電子束束流：5 pA~20nA;
極限分辨率：0.8 nm@15kV 1.6 nm @1kV;
放大倍數：10~106×。

二、廣泛的適用性
蔡司場發射掃描電子顯微鏡要求待測樣品為干燥的固體，且無揮發性物質，對樣品的包容性較強。對于大多數干燥且導電的固體樣品無需特殊制備過程，只要根據樣品大小、形狀和觀察需求，用適當方法固定在相應樣品臺上即可。為應對不同的表征需要，本實驗室配置的樣品臺包括12.5mm釘形臺、25mm釘形臺、12.5mm全碳釘形臺、帶夾片釘形臺、可夾持樣品臺、90°/45°樣品臺、90°帶夾片樣品臺、EBSD專用樣品臺。

此外，實驗室還可配置如下制樣設備，可用于樣品的前處理：
1. 離子濺射儀(Bright KAS-2000F)：配有鉑靶材，用于在樣品表面濺射鍍導電層，增加樣品導電性。
2. 臨界點干燥儀(Quorum K850)：用于生物組織樣品梯度脫水后，用液態二氧化碳置換樣品中的丙酮，并實現無張力的干燥過程。

三、強大的功能擴展性
蔡司掃描電鏡Sigma系列的大腔體設計可以容納更大的樣品，并為表征實驗提供更多的擴展空間。除用于成像的E-T二次電子探頭和Inlens二次電子探頭外，儀器還配有背散射電子探頭(BSE)、牛津儀器X-Max能譜探頭(EDS)、牛津儀器Nordlys電子背散射衍射探頭(EBSD)、透射電子探頭(STEM)、Gatan C1003冷熱臺等附件，可用于元素表征、晶相分析、透射成像、原位變溫實驗等多種實驗場景。