隨著顯示面板分辨率的不斷提升，顯示驅動芯片（DDIC）的數據接口傳輸速率越來越高，MIPI、LVDS/mLVDS、HDMI等高速數據接口在DDIC上廣泛應用。為滿足高速數據接口的ATE測試需求，作為國內少數擁有完全自研的LCD Driver測試解決方案供應商，加速科技經過近三年時間的不懈努力，已在國內率先完成了行業內最高標準的高速數據接口測試技術自主研發，推出了High Speed I/O測試板。它提供32 lanes測試接口，測試速率可達2.7Gbps。

目前，High Speed I/O測試板取得了多項核心技術的研發突破，EPR、EPA等關鍵指標達到國內領先水平，EPR 1ps，EPA ±66ps。除了皮秒級的高精度波形傳輸外，High Speed I/O測試板還集成了PMU（per pin）、Pattern generator、Frame processor、Jitter injection等功能單元，支持對高速數據接口測試對象進行全面的、定制化的測試。

加速科技基于對未來顯示驅動芯片發展的前瞻洞察，在探索中革新演進，最終實現了從1.0Gbps到2.7Gbps的技術跨越。行業周知，高速傳輸與高精度之間的平衡是永恒的難題。如何在實現高速傳輸的同時，兼顧數據精確性，對于技術的落地應用提出了極大挑戰；此外，顯示驅動芯片功能集成度高，這就要求高速數據接口測試全面化且支持定制。高精度、高測試接口覆蓋率成為掣肘2.7Gbps落地的兩大關鍵技術難題。

提高高速數據傳輸精確性：在實際測試場景中，高速數據接口在傳輸數據時要求信號的完整性極高，包括波形的上升時間、下降時間、噪聲等指標。高速傳輸的同時，保障傳輸信號質量的最優，技術難度極大。High Speed I/O測試板目前已實現皮秒級的高精度波形傳輸，EPR 1ps，EPA ±66ps，解決了高速信號傳輸精確性難題。

保障測試接口覆蓋率：消費者對顯示設備的顯示效果要求日益提高，推動顯示驅動芯片產品性能不斷提升，顯示驅動芯片功能集成度持續躍升，測試接口的數量、復雜度、密度增加，同時測試需求也會變得更加定制化，High Speed I/O測試板目前能夠覆蓋主流接口的測試需求，且能確保各個接口之間的兼容性和穩定性。

加速科技的發展之路是堅持創新，無論是在“自上而下”的頂層設計，即產品研發規劃上，還是在“自下而上”的技術落地實踐，應對高速接口測試各種嚴酷挑戰的前沿探索上，始終保持著高度的創新性、專業性，在半導體測試方面我們致力于為客戶提供最佳技術支持。

以顯示驅動芯片測試為代表的測試場景中，高速數據接口測試是核心要素，要讓測試技術真正落到實處，讓技術與用戶需求融合創新，提升效益助力產品升級迭代的同時，也讓顯示領域創新凸顯出更多的價值。作為國內半導體測試領域領軍企業，加速科技將通過不斷精研技術，創新突破，助力半導體測試產業持續升級和健康發展。

審核編輯 黃宇