近日，有客戶找到我們需要測PIN的IV特性，客戶反饋了解過吉時利2400系列源表測試會出現屏幕無法顯示曲線問題，了解客戶需求后，為了更好的完成測試，我們及時做出了一套測試方案，去客戶現場進行測試，接下來為大家分享PIN硅輻射探測IV曲線的測試案例！

PIN硅輻射探測器是一種用于探測輻射的半導體探測器，它通常由P型硅、I型硅和N型硅層組成。PIN探測器具有高能分辨率和高探測效率的特點，因此在核物理實驗、醫學成像和輻射監測等領域得到廣泛應用。

PIN硅輻射探測器的工作原理是通過輻射粒子在探測器中產生的電子空穿和電子空穴引起的電荷移動來測量輻射能量。當輻射粒子進入探測器時，它會與硅晶格中的原子發生相互作用，產生電子空穿和電子空穴。這些電荷在電場的作用下被分離并收集到探測器的電極上，產生一個電荷脈沖信號。通過測量這個信號的幅度和時間分布，可以確定輻射粒子的能量和入射位置。

為了確定PIN硅輻射探測器的性能，我們首先使用的是吉時利2400源表+kickstart上位機軟件進行測試，在測試PIN的IV曲線時，需要將樣品放在不透光的環境中，所以在測試時，我們將樣品放在了一個密閉的盒子，一鍵測試就可完成。

吉時利2400源表+kickstart上位機軟件

測試中可看到我們采用的是吉時利2400源表+kickstart上位機軟件可順利完成測試。

此次測試我們更推薦使用2450源表進行測試，新款2400圖形化系列源表在外觀上可直接看出較大的區別，它可實現觸屏操作，操作更加簡單，在源表屏幕上可以直接顯示IV曲線，不需要上位機軟件就可直觀看到測試結果，操作簡單，測試便捷，所以我們更推薦2450系列源表。

審核編輯 黃宇