為賦能千行百業(yè)數字化轉型，作為國內領先的SSD存儲方案提供商，憶聯建立消費級存儲實驗室，構建消費級SSD全生命周期測試，開展性能測試、兼容性測試、功能測試、環(huán)境應力測試、可靠性測試、電器檢測，保障用戶數據安全，為終端用戶打造極致的數據存儲體驗。

覆蓋消費級SSD全生命周期測試

憶聯消費級存儲實驗室面積約1000平方米，配備筆記本電腦、Chromebook等大量終端設備，并擁有固態(tài)硬盤常溫測試系統(tǒng)、固態(tài)硬盤環(huán)境應力測試系統(tǒng)、協(xié)議分析儀、數字采集儀等眾多先進的測試驗證設備。實驗室規(guī)模和設備先進性均處于業(yè)界領先地位，可充分保障存儲實驗工作的科學性和準確性。

點擊視頻，走進憶聯消費級存儲實驗室

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一流測試設備，筑牢質量根基

憶聯消費級存儲實驗室擁有業(yè)界一流的硬件測試設備，可執(zhí)行電源測試，PCIe、DRAM、NAND Flash等各類高低速信號測試及硬件可靠性測試，保障信號的完整性和傳輸速率，為客戶提供高運維效率。

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測試覆蓋范圍廣，保障多樣化用戶體驗

在系統(tǒng)級測試驗證方面，聚焦產品的性能、掉電、兼容性、功耗、功能、協(xié)議一致性，包括讀寫、環(huán)境應力、溫控、加密等測試；其中，CSSD測試用例已達6000條，涵蓋系統(tǒng)級別和單體級別測試；測試用機覆蓋主流CPU和平臺類型。目前，實驗室的測試用例仍在持續(xù)開發(fā)中，測試平臺、測試儀器也在不斷迭代，力爭通過構筑全方位、多場景的測試環(huán)境，為用戶提供高品質的消費級存儲產品。

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全方位可靠性試驗，為用戶提供質量卓越的產品

以打造高可靠性、高質量的產品為目標，在可靠性測試驗證方面，憶聯深耕介質顆粒測試調優(yōu)。憑借業(yè)界領先的ATE測試機、高低溫沖擊機等設備，進行NAND顆粒IO Characterization、NAND顆粒Device Qualification、NAND顆粒EFA分析，通過全方位測試，打造卓越客戶體驗。

Union Memory

隨著測試用例規(guī)模不斷擴大、測試效率以及測試前置不斷改善，憶聯大幅度縮短與業(yè)界標桿的差距，產品質量已位于行業(yè)前列。

消費級SSD測試規(guī)模和效率不斷提升和完善

目前，依托于實驗室的領先性，憶聯主導制定的消費級固態(tài)硬盤標準已正式發(fā)布（憶聯主導制定的消費級固態(tài)硬盤標準正式發(fā)布！），將為促進產業(yè)穩(wěn)固發(fā)展提供技術支撐。在未來，憶聯將持續(xù)緊密圍繞客戶應用場景，以消費級存儲實驗室為基礎，結合扎實的研發(fā)能力和技術創(chuàng)新能力，為客戶提供更高品質的消費級存儲產品，助力客戶與“數”俱進。

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