負(fù)載調(diào)整率(load regulation)是衡量穩(wěn)壓電源芯片的一項重要指標(biāo)，它可以用來直接判斷電源芯片的好壞。對電源芯片的設(shè)計研發(fā)和生產(chǎn)企業(yè)來說產(chǎn)品的負(fù)載調(diào)整率有著嚴(yán)格的要求，通常電源芯片的負(fù)載調(diào)整率在3%-5%之間，但某些對產(chǎn)品質(zhì)量要求高的企業(yè)這一指標(biāo)的數(shù)值甚至需要達(dá)到2%左右。

電源芯片負(fù)載調(diào)整率

電源芯片負(fù)載調(diào)整率介紹

電源芯片的負(fù)載調(diào)整率指的是電源芯片在正常工作時，它的輸出電壓變化量與負(fù)載電流變化量的比值。通常以輸出電流從0變化到額定最大電流時，輸出電壓的變化量和輸出電壓的百分比值來表示。具體的計算公式為：

負(fù)載調(diào)整率=(空載時輸出電壓-滿載時輸出電壓)/(額定負(fù)載時輸出電壓)*100%

ATECLOUD-IC自動測試系統(tǒng)

電源芯片負(fù)載調(diào)整率的測試原理

通過電源芯片負(fù)載調(diào)整率的概念我們可以知道，測試芯片的負(fù)載調(diào)整率只需測試電源芯片輸出電流從0到最大額定電流時輸出電壓數(shù)值，所以測試電源芯片的負(fù)載調(diào)整率需要一臺多通道直流電源、一臺數(shù)字萬用表以及一臺電子負(fù)載即可。

電源芯片負(fù)載調(diào)整率的測試方法

測試電源芯片的負(fù)載調(diào)整率時我們可以使用ATECLOUD-IC芯片測試系統(tǒng)通過軟件控制電源給芯片供電輸入，讓芯片處于工作狀態(tài)，之后給芯片的輸出端加載輸出電流，控制電子負(fù)載步進(jìn)輸出電流讓其從0逐步增大到額定電流，同時在輸出端接入數(shù)字萬用表，采集每次電流變幻時的輸出電壓，之后可以通過系統(tǒng)計算出芯片的負(fù)載調(diào)整率。

電源芯片負(fù)載調(diào)整率

使用測試系統(tǒng)可以免去人工配置參數(shù)記錄數(shù)據(jù)的過程，可以提升測試效率5-10倍，同時對于精度要求高的設(shè)計研發(fā)企業(yè)系統(tǒng)毫秒級的采樣率可以滿足多次采樣的需求，讓測試數(shù)據(jù)更加精準(zhǔn)，從而優(yōu)化工藝流程;而且ATECLOUD-IC測試系統(tǒng)中的數(shù)據(jù)報告功能可以根據(jù)企業(yè)需求完成不同格式模板的報告導(dǎo)出，數(shù)據(jù)洞察功能更是可以將所有數(shù)據(jù)綜合智能分析，輕松自定義數(shù)據(jù)看板，數(shù)據(jù)圖表大屏幕集中管控，可以助力企業(yè)從產(chǎn)品參數(shù)、員工功效、測試效率等多維度、精細(xì)化分析企業(yè)數(shù)據(jù)，從而保障企業(yè)及時優(yōu)化研發(fā)方向，支持管理決策。

審核編輯 黃宇