蔡司工業(yè)CT技術(shù)不受被檢測(cè)物體材料、形狀、表面狀況等限制,能夠給出被檢測(cè)物體二維、三維圖像,成像 直觀,分辨率高。因此,工業(yè)CT被廣泛應(yīng)用在我國(guó)航空、航天、兵器、汽車制造、鐵路、考古等領(lǐng)域,應(yīng)用范圍涵 蓋缺陷檢測(cè)、材料密度表征、尺寸測(cè)量、裝配結(jié)構(gòu)分析、逆向工程等。隨著工業(yè) CT 技術(shù)在高端裝備制造業(yè) 中的應(yīng)用和發(fā)展,精密復(fù)雜零部件的內(nèi)部缺陷檢測(cè)需求日益增加,對(duì)缺陷的檢出尺度及測(cè)量精度要求極高。

目前國(guó)內(nèi)外正積極開(kāi)展工業(yè)CT三維精密測(cè)量技術(shù)研究。在工業(yè)CT尺寸測(cè)量應(yīng)用研究方面，Kiekens等對(duì)影響工業(yè)CT系統(tǒng)測(cè)量值誤差進(jìn)行了研究，Van Bael等將蔡司工業(yè)CT應(yīng)用于多孔結(jié)構(gòu)幾何形狀控制，計(jì)算孔結(jié)構(gòu)尺寸、壁厚、結(jié)構(gòu)體積等幾何信息，完成產(chǎn)品幾何形狀的控制。在尺寸測(cè)量精度方面，GE公司通過(guò)紅寶石球進(jìn)行驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)，并采用散射線補(bǔ)償?shù)姆椒ㄌ岣邷y(cè)量精度，最高可達(dá)(4+L/100) μm。在測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)方面，德國(guó)《VDI/VDE 2630工業(yè)CT尺寸測(cè)量》系列標(biāo)準(zhǔn)，包含了原理與術(shù)語(yǔ)、測(cè)量影響因素與建議、尺寸測(cè)量應(yīng)用指南、測(cè)量過(guò)程及比較、測(cè)量不確定度等方面。國(guó)內(nèi)工業(yè)CT技術(shù)主要應(yīng)用于無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域，在幾何量測(cè)量和計(jì)量化應(yīng)用方面起步較晚。工業(yè)CT測(cè)量技術(shù)的需求主要來(lái)源于產(chǎn)品尺寸檢驗(yàn)，王義旭等針對(duì)工業(yè)CT探測(cè)尺寸誤差進(jìn)行了校準(zhǔn)和分析。在國(guó)內(nèi)公開(kāi)的標(biāo)準(zhǔn)方面，涉及蔡司工業(yè)CT結(jié)構(gòu)尺寸測(cè)量的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)僅有GB/T 29067-2012 《無(wú)損檢測(cè)工業(yè)計(jì)算機(jī)層析成像(CT)圖像測(cè)量方法》。同時(shí)，目前可參考的國(guó)內(nèi)外文獻(xiàn)及標(biāo)準(zhǔn)，鮮有針對(duì)小尺寸薄壁結(jié)構(gòu)的測(cè)量誤差進(jìn)行特別說(shuō)明。

對(duì)于金屬材料內(nèi)部不規(guī)則形貌缺陷的蔡司工業(yè)CT無(wú)損檢測(cè),當(dāng)前普遍采用半高寬缺陷尺寸計(jì)算法,CT 檢測(cè)人員通過(guò)觀察及經(jīng)驗(yàn)判定缺陷位置,人為分割缺陷邊緣。該方法適用于尺度遠(yuǎn)大于 CT 圖像像素尺寸的 缺陷評(píng)價(jià),但當(dāng)缺陷尺寸接近或小于像素尺寸時(shí),CT 檢測(cè)人員判定的缺陷測(cè)量及評(píng)價(jià)結(jié)果存在很大誤差,由 此會(huì)產(chǎn)生“超標(biāo)”誤判,造成不必要的浪費(fèi)。因此,在金屬材料工業(yè)CT檢測(cè)過(guò)程中,有必要研究一種適用不同 CT 設(shè)備及工藝參數(shù)的缺陷精確測(cè)量方法。