場發射掃描電鏡GeminiSEM 500規格參數
今天三本精密儀器小編給您介紹場發射掃描電鏡GeminiSEM 500規格參數及樣品制備要求：
一、樣品要求
（1）本儀器不接收磁性、易潮、液體、有機、生物、不耐熱、熔融蒸發、松動粉末或碎屑等有揮發物樣品，每個樣品的質量不得超過100g，高度不超過2 cm。
（2）對于隱瞞樣品信息而造成設備故障或損壞的，中心要求用戶或用戶課題組承擔相應的維修費和誤工費。
二、場發射掃描電鏡GeminiSEM 500主要規格及技術指標
1、分辨率：15 kV時0.6nm；1 kV時 0.9nm (借助串聯減速功能選項)；
2、加速電壓：0.02-30 kV 連續可調；
3、放大倍數： ×20-2,000K
4、探針電流：3pA-20nA。
三、主要附件及配置
配有能譜與超級能譜。
能譜儀(EDS) Oxford EDS System（UltimMax100）
EBSD Oxford EBSD System（Symmetry）
聲明：本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人，不代表電子發燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用，如有內容侵權或者其他違規問題，請聯系本站處理。
舉報投訴
-
掃描
+關注
關注
0文章
213瀏覽量
25474 -
電鏡
+關注
關注
0文章
104瀏覽量
9762 -
掃描電鏡
+關注
關注
0文章
120瀏覽量
9929
發布評論請先 登錄
相關推薦
熱點推薦
聚焦離子束-掃描電鏡（FIB-SEM）的三大應用技術
聚焦離子束-掃描電鏡（FIB-SEM）雙束系統是現代材料科學研究中不可或缺的多維表征平臺。該系統將聚焦離子束的精準加工能力與掃描電鏡的高分辨率成像功能有機結合，為從微觀到納米尺度的材料結構解析提供了
一文讀懂！掃描電鏡mapping圖如何助力靜電紡絲纖維結構觀察
在微觀世界的探索中，材料的宏觀性能究竟由其微觀世界中哪些區域的哪些元素所決定？掃描電鏡mapping圖為我們深入了解材料的微觀結構和成分分布提供了獨特視角，尤其在靜電紡絲纖維結構觀察方面，有著
掃描電鏡與掃描電子顯微鏡：解析二者的關系與區別
在科研、工業檢測等領域，“掃描電鏡”和“掃描電子顯微鏡”這兩個術語經常被提及。對于剛接觸相關領域的人來說，很容易對它們產生困惑，不清楚二者之間究竟存在怎樣的聯系和區別。其實，從本質上來說，二者有著
什么是聚焦離子束掃描電鏡（FIB-SEM）？
工作原理聚焦離子束掃描電鏡（FIB-SEM）是一種集多種先進技術于一體的微觀分析儀器，其工作原理基于離子束與電子束的協同作用。1.離子束原理離子束部分的核心是液態金屬離子源，通常使用鎵離子。在強電
掃描電鏡在微納加工中的應用
本文是A. N. BROERS關于掃描電鏡在微納加工中應用的研究回顧，重點記錄了他從1960年代開始參與電子束加工技術開發的歷程。文章詳細記錄了EBL技術從概念萌芽到工業應用的完整發展歷程，為理解現代電子束光刻技術的原理、局限性和發展方向提供了寶貴的歷史視角和技術洞察。
掃描電鏡(SEM)的工作原理和主要成像模式
掃描電鏡的概念和技術起源于20世紀30年代，最早是由德國物理學家Max Knoll和Ernst Ruska首次提出了掃描電子顯微鏡的概念，經過科學家們不斷研究與技術革新，第一臺實用化的商品掃描電子顯微鏡在英國誕生。2002 年，
掃描電鏡：打開微觀世界的“超維相機”，科學家如何用它破解納米謎題？
傳統顯微鏡受限于可見光波長，放大極限止步于200納米。而掃描電鏡利用高能電子束作為"探針"，通過電磁透鏡操控電子軌跡，突破衍射極限，分辨率可達1納米以下。
掃描電鏡總出問題？抗振防磁很關鍵！
在科學研究與工業檢測領域，掃描電鏡作為探索微觀世界的利器，發揮著不可替代的作用。從材料科學中觀察材料的微觀結構與性能，到生物醫學領域展示細胞的表面形態，再到半導體行業助力芯片制造的質量把控，掃描電鏡
大樣品倉掃描電鏡購買指南
以下是一份大樣品倉掃描電鏡的購買指南：1、明確需求-樣品尺寸和類型：確定經常需要觀察的樣品的最大尺寸、形狀以及樣品的性質，如導電性、磁性等。例如，若研究的是大型地質巖石樣本或較大的生物組織切片
sem掃描電鏡是測什么的？哪些學科領域會經常使用到掃描電鏡？
SEM掃描電鏡即掃描電子顯微鏡，主要用于以下方面的檢測：1、材料微觀形貌觀察-材料表面結構：可以清晰地觀察到材料表面的微觀結構，如金屬材料的表面紋理、陶瓷材料的晶粒分布、高分子材料的表面形貌等。例如
掃描電鏡日常操作流程的詳細說明
掃描電鏡的日常操作流程一般包括以下步驟：開機前準備1.檢查掃描電鏡及相關設備（如真空泵、冷卻系統等）的電源線是否連接正常，各儀器設備的開關是否處于關閉狀態。2.確認樣品已準備好，且符合掃描電鏡的樣品
聚焦離子束掃描電鏡雙束系統（FIB-SEM）
聚焦離子束掃描電鏡雙束系統（FIB-SEM）作為一種前沿的微納加工與成像技術，憑借其強大的功能和多面性，在材料科學研究中占據著舉足輕重的地位。它能夠深入微觀世界，揭示材料內部的結構與特性，為材料科學
工商網監
評論