隨著科技進步, 應用于航天相關的電子元器件泄漏檢測已逐步成為生產檢測的重要環節之一, 電子元器件中目前應用檢漏技術的主要為密封繼電器, 微型密封高可靠極化繼電器要求漏率小于 1×10-9 Pa m3／s.

利用氦質譜檢漏儀可以方便地對密封繼電器作漏率測定, 針對不同的產品, 需要選擇適當的檢漏方法
推薦選擇前級泵為干泵的檢漏儀 ASM 340 D, 保證清潔無油, 避免對元器件造成污染

上海伯東繼電器檢漏方法: 采用檢漏儀的背壓法檢漏, 背壓法檢漏適用于小型全密封工件, 測試密封繼電器的整體漏率
繼電器的背壓檢漏法分為以下三個步驟
1. 加氦壓: 將被檢繼電器放入充氦的壓力罐中; 按照 GJB 360A-96 規定計算內腔體積, 選擇適當的加壓壓力和加壓時間, 若繼電器有漏, 則高壓氦氣被壓入繼電器內腔.
2. 凈化: 從壓力罐中取出繼電器, 用氮氣流或空氣流吹凈繼電器表面吸附的氦氣.
3. 檢漏: 將繼電器放人連接檢漏儀的腔體中進行檢測 (之前已設置好漏率值等), 若繼電器有漏, 壓入內腔的氦氣會進入檢漏儀, 儀器上會有漏率顯示. 如果檢漏腔較大, 可以加配前級泵, 用于輔助抽真空. 減少檢漏時間.

上海伯東推薦繼電器檢漏用氦質譜檢漏儀 ASM 340 D

	對氦氣的最小檢測漏率, 真空模式 5E-13 Pa m3/s
	檢測氣體: 4He, 3He, H2
	檢測模式: 真空, 吸槍
	對氦氣的抽氣速度 2.5 l/s
	進氣口最大壓力 25 hPa
	前級泵抽速 3.4 m3/h

結合了 Pfeiffer 與 Adixen 兩家檢漏儀的技術優勢, 上海伯東德國 Pfeiffer 推出全系列新型號氦質譜檢漏儀, 從便攜式檢漏儀到工作臺式檢漏儀滿足各種不同的應用. 氦質譜檢漏儀替代傳統泡沫檢漏和壓差檢漏, 利用氦氣作為示蹤氣體可精確定位, 定量漏點. 氦質譜檢漏儀滿足單機檢漏, 也可集成在檢漏系統或 PLC.

鑒于客戶信息保密, 若您需要進一步的了解密封繼電器檢漏, 請聯絡上海伯東葉女士