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7月27日|泰克云上大講堂—1/f噪聲測試方案詳解

泰克科技 ? 來源:未知 ? 2023-07-25 12:10 ? 次閱讀
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電子設備本身有不同類型的噪聲源,包括熱噪聲、散粒噪聲、白噪聲和1/f(閃爍)噪聲。1/f噪聲是電流(ISD)或功率(PSD)譜密度與頻率成反比的低頻電子噪聲。許多類型的電子元件都表現出1/f噪聲,包括半導體器件、某些類型的電阻器、石墨烯等二維材料,甚至化學電池。器件尺寸越來越小,噪聲成為限制器件靈敏度的關鍵因素;除了熱噪聲外,1/f噪聲就成為衡量材料和器件性能的一個關鍵指標;實際工作中我們會通過嘗試不同的工藝或器件結構來降低1/f噪聲。

器件的1/f噪聲是通過測量電流作為時間的函數,然后將數據轉換為頻域來確定的。快速傅里葉變換(FFT)是一種將時域數據轉換為頻域數據的常用方法。

泰克的半導體參數分析儀4200A可以通過SMU或PMU測試電流,主機軟件包含FFT功能,可以將時域波形轉換為頻域波形,讓我們方便進行1/f噪聲測試。

content

直播預告

本期云上大講堂,泰克高級應用工程師 趙凱將為大家介紹:

1/f噪聲的概念和測試方法

使用4200A進行1/f噪聲測試

?測試系統的底噪

?1/f噪聲測試頻率范圍的設定

?SMU和PMU測試示例

?提升1/f噪聲測試精度的方法

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直播日程安排

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輸入

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時間

2023年7月27日(周四)1430

1410

1/f噪聲測試方案詳解

1520

互動答疑

1530

搶答有獎

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講師介紹

趙凱

泰克高級應用工程師

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欲知更多產品和應用詳情,您還可以通過如下方式聯系我們:

郵箱:china.mktg@tektronix.com

網址:tek.com.cn

電話:400-820-5835(周一至周五900)

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泰克設計和制造能夠幫助您測試和測量各種解決方案,從而突破復雜性的層層壁壘,加快您的全局創新步伐。我們攜手共進,一定能夠幫助各級工程師更方便、更快速、更準確地創造和實現技術進步。

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原文標題:7月27日|泰克云上大講堂—1/f噪聲測試方案詳解

文章出處:【微信公眾號:泰克科技】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。


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