能一口氣從【-70℃飆到150℃】的SSD固態硬盤高低溫老化試驗箱長啥樣？
一款SSD在正式進入市場前必然會經過多種測試，其中就有老化測試和高溫測試，這兩項測試對芯片的質量和可靠性要求非常嚴苛，畢竟事關數據存儲的，測試到位才能保證產品以上等的性能進入市場。
但我們參觀了那么多固態生產工廠后，發現很多工廠這兩個測試環節的現狀是這樣的！
-老化測試和高溫測試單獨分開進行，測試總耗時較長；
-測試環境用設備模擬創造；
-一些嚴苛的條件，例如工控產品測試需要的嚴苛溫度、或者處于一定濕度和壓力下的測試環境，當前多數工廠的設備都無法滿足；
總的來說問題就是產品測試時間長，測試環境不夠**，從而導致交貨期延長和產品返修率增加。那有沒有什么辦法可以一口氣解決這些問題呢？
1、設備性能
在定制化的SSD專用SSD固態硬盤高低溫老化試驗箱內，老化測試、恒溫測試或者高低溫交叉測試可以同時進行；
測試溫度標準可達到工業級別，高溫度達到150℃，低達到負70℃，溫度調節程序自動化；
溫度變化過程中，還會形成水汽，可創造嚴苛的測試環境條件。
2、強大作用
被測產品被置于嚴苛的溫度、濕度及壓力下測試，會加速老化壽命試驗，整體縮短產品壽命試驗時間；
可檢測產品電子元器件的封裝的密封性和耐壓性，從而判斷產品的環境適應力和工作壓力適應力！
定制化的內箱構造，保證產品在試驗過程中溫度濕度壓力是均衡的！
關鍵是，整個設備電路整合設計，操作簡單，維護方便。

很多固態產品的生產企業對于測試這一個板塊非常重視也非常頭疼，一方面是因為測試時間長，另一方面是測試工作是產品良率和返修率的保證。這個時候一臺高效且靠譜的測試設備就顯得尤為重要了！

LabCompanion宏展儀器高性能SSD固態硬盤高低溫老化試驗驗證解決方案

隨著科學技術的不斷進步，SSD固態硬盤技術也在日益更新，SSD固態硬盤行業的可靠性試驗的需求日益提高。針對SSD固態硬盤、半導體及電子元器件的高發熱、高負載的試驗需求，LabCompanion宏展儀器開發了SSD高性能高低溫（濕熱）試驗箱，既可以實現更快的溫度升降速率，又能對應容許*大發熱負荷高至4500W的高負載發熱可靠性試驗。

主要特征：

可實現更高性能

與普通溫濕箱相比，擁有更快的溫度升降速率：升溫速率：7℃/min，降溫速率：3~5℃/min。濕度范圍：20%～98RH。

對應高發熱高負載試驗

容許大發熱負荷高至4500W，適合SSD固態硬盤、半導體、車載零件相關電子元器件的高負載發熱可靠性試驗。

方便改造，功能拓展性強

結構上更容易進行改造，如上方可進行上下疊放改造；左右側可進行并柜改造。

更容易進行提高性能的相關改造。

平衡調溫調濕控制系統（BTHC），雙PID及水蒸氣分壓控制，技術成熟、精度極高。

產品綠色環保、省耗節能。

通過接口可進行網絡控制及數據采集（RS-485/GPIB/WebLan/RS-232C）。

標配左右電纜孔（50mm），便于試樣通電連線、進行多項測量。

控制器采用彩色LCD觸摸屏，操作簡單方便

通過控制器可選擇定值和程序兩種控制適應不同應用。

程序控制可設置100個模式，每個模式設定99步驟。重復循環*大999次。

多種語言輕松切換（簡體中文、英語）、試驗數據U盤存儲。

可追加多種選購件，滿足客戶多樣需求。

可追加泄壓閥、煙霧傳感器、急停開關、報警輸出端子、三色燈等**選購件。

標配風冷規格，方便產品的移動與安裝。

1溫度箱按照GB/T5170.2,IEC60068-3-5及濕度箱按照GB/T5170.5,IEC60068-3-6的規定，環境溫度＋23℃、相對濕度65±20%rh、額定電壓、無試樣時。環境溫度高于23℃時有時候達不到*低溫度。以GB/T5170.2-2008規則表示。

2箱內溫度是＋20℃。

3該升降溫速率為去掉總溫度區間的前后10%的升降溫速率的值。