作者：fox

小編：吃不飽

作為一名測(cè)試工程師，在做MiL測(cè)試時(shí)，編寫(xiě)測(cè)試用例的效率影響整個(gè)測(cè)試項(xiàng)目的進(jìn)度，如何有效提升編寫(xiě)測(cè)試用例的效率，是大家都關(guān)心的問(wèn)題。
TPT作為一款自動(dòng)化測(cè)試工具，提供了很多提高搭建測(cè)試用例效率的方法，比如自動(dòng)生成測(cè)試用例。除此以外，TPT還提供了Testlet Library，可以復(fù)用Testlet，以及將一個(gè)工程的測(cè)試用例復(fù)用到另外一個(gè)工程。
01應(yīng)用場(chǎng)景一單元測(cè)試的用例復(fù)用到集成測(cè)試
按照功能安全的要求，單元測(cè)試之后要進(jìn)行集成測(cè)試，那單元的測(cè)試用例能夠一定程度上復(fù)用到集成測(cè)試嗎？在TPT中引入了Testlet Library的概念。
Testlet Library是一個(gè)TPT項(xiàng)目文件，它可以包含一個(gè)完整的TPT項(xiàng)目，或者包含或不包含sub-testlets的單個(gè)testlet。Testlet Library可以同時(shí)在多個(gè)項(xiàng)目中使用。簡(jiǎn)言之，Testlet Library可以引用另外一個(gè)TPT工程，或者某個(gè)testlet。
借由Testlet Library，可以將單元測(cè)試的用例復(fù)用到集成測(cè)試，減少重復(fù)搭建相同用例的時(shí)間，提高測(cè)試效率。Demo模型如下圖所示，該模型有兩個(gè)subsystem，已完成單元測(cè)試，將要進(jìn)行集成測(cè)試。圖1 集成級(jí)模型

1）激活Testlet Libraries

在菜單欄Incubation中選擇Enable Testlet Libraries，將該功能激活。圖2 激活Test Libraries

2）狀態(tài)機(jī)的搭建

集成測(cè)試工程的狀態(tài)機(jī)，以單元工程的名稱(chēng)命名，每個(gè)單元測(cè)試的工程，都建立對(duì)應(yīng)的狀態(tài)機(jī)。圖3 建立對(duì)單元工程的狀態(tài)機(jī)

3）設(shè)置為L(zhǎng)ibrary testlet

在上一步建好的狀態(tài)機(jī)上右鍵，選擇Delete Content，將其Content刪除，在彈出的窗口中，選擇Library，并點(diǎn)擊Open…選擇要參考的工程的路徑。 圖4 將狀態(tài)機(jī)設(shè)置為L(zhǎng)ibrary轉(zhuǎn)換完成的狀態(tài)機(jī)右下角帶有藍(lán)色小箭頭表示，此時(shí)TPT會(huì)打開(kāi)參考的Library工程。圖5 轉(zhuǎn)換完的Testlet

4）信號(hào)mapping

將信號(hào)做好mapping，把單元測(cè)試和集成測(cè)試的接口參數(shù)等互相匹配。對(duì)于Vehicle這個(gè)單元，在單元測(cè)試階段eng_trq是Input，在集成測(cè)試時(shí)變成不可賦值的Local，需要在聲明編輯器中添加一個(gè)相對(duì)的local量，以便該單元測(cè)試工程的用例可以運(yùn)行。圖6 信號(hào)mapping

5）組合測(cè)試用例

將Vehicle也按照第四步中方法建立好對(duì)應(yīng)的狀態(tài)機(jī)后，就可以在集成測(cè)試工程的狀態(tài)機(jī)上選擇單元工程的測(cè)試用例。例如，CruiseControl選擇status_cc_3，Vehicle選擇ramp。圖7 集成測(cè)試復(fù)用單元測(cè)試的測(cè)試用例
這樣就可以將單元測(cè)試的測(cè)試用例復(fù)用到集成測(cè)試，大大節(jié)省重復(fù)編寫(xiě)相同測(cè)試用例所需的時(shí)間，大家快來(lái)試試吧！
02應(yīng)用場(chǎng)景二高度重復(fù)的測(cè)試步驟
編寫(xiě)測(cè)試用例時(shí)，大家往往會(huì)遇到一些典型的場(chǎng)景，他們需要多步才能完成，卻在多個(gè)工程中會(huì)使用，比如調(diào)度模塊。
在TPT中模擬調(diào)度信號(hào)（調(diào)度周期為20ms），需要這樣幾步操作。圖8 TPT模擬調(diào)度周期為20ms的調(diào)度信號(hào)
同一個(gè)ECU中可能包含多個(gè)調(diào)度周期為20ms的subsystem，在做單元測(cè)試時(shí)，每個(gè)測(cè)試工程都需要編輯這部分狀態(tài)機(jī)，此時(shí)Testlet Library就可以大大減少這部分重復(fù)工作所需的時(shí)間。下面我來(lái)介紹TPT如何使用該功能復(fù)用測(cè)試用例。

1）搭建狀態(tài)機(jī)

將調(diào)度模塊的狀態(tài)機(jī)搭建好，編輯好其Variants。圖9 搭建Library狀態(tài)機(jī)

2）將狀態(tài)機(jī)封裝為T(mén)estlet Library

在剛剛編輯好的狀態(tài)機(jī)上右鍵，選擇convert to Testlet Library，將其轉(zhuǎn)換為T(mén)estlet Library，選擇保存的位置并命名，圖10 將狀態(tài)機(jī)轉(zhuǎn)換為T(mén)estlet Library并保存

3）在其它工程中使用Testlet Library

在另一個(gè)工程中新建空白狀態(tài)機(jī)，右鍵，選擇Delete Content，將其Content刪除，在彈出的窗口中，選擇Library，并選擇上一步中生成的Testlet Library路徑。圖11 將狀態(tài)機(jī)設(shè)置為L(zhǎng)ibrary
轉(zhuǎn)換完成的狀態(tài)機(jī)右下角帶有藍(lán)色小箭頭表示，此時(shí)TPT會(huì)打開(kāi)參考的Library工程。圖12 轉(zhuǎn)換完的Testlet在當(dāng)前工程的狀態(tài)機(jī)上右鍵，選擇“Channel/Parameter Map”進(jìn)行當(dāng)前工程和Library的信號(hào)mapping，到此已經(jīng)完成。圖13 信號(hào)mapping完成之后即可在新的測(cè)試工程中完整復(fù)用該狀態(tài)機(jī)及其變種，提高我們編寫(xiě)測(cè)試用例的效率。感興趣的大伙快來(lái)試試吧！圖14 復(fù)用Testlet Library的狀態(tài)機(jī)
03總結(jié)
本文主要介紹了Testlet Library的兩種應(yīng)用場(chǎng)景：1. 單元測(cè)試的用例復(fù)用到集成測(cè)試；2. 高度重復(fù)的測(cè)試步驟。除此以外，測(cè)試評(píng)估也可以一定程度上從單元測(cè)試復(fù)用到集成測(cè)試，敬請(qǐng)期待下篇：評(píng)估篇！