昊衡科技推出的光纖微裂紋檢測(cè)儀，可用于光器件、光模塊內(nèi)部耦合點(diǎn)、連接點(diǎn)性能檢測(cè)，以及微米級(jí)長(zhǎng)度測(cè)量，是國產(chǎn)裂紋檢測(cè)儀中的佼佼者。

圖1.光纖微裂紋檢測(cè)儀

光纖微裂紋檢測(cè)儀（OLI）可用于各類型接頭回?fù)p的測(cè)量，在測(cè)量FC/APC接頭回?fù)p的過程中，我們發(fā)現(xiàn)了很有趣的現(xiàn)象。

圖2. 蓋緊的防塵帽

圖3. 測(cè)試結(jié)果

防塵帽蓋緊測(cè)量結(jié)果顯示三個(gè)峰，第一個(gè)峰為FC/APC接頭端面反射、第二個(gè)峰和第三個(gè)峰為防塵帽尾端兩個(gè)反射，如圖3所示。第一個(gè)峰和第二個(gè)峰之間相距1.47mm。

圖4.峰值示意圖

圖5. 防塵帽向后移動(dòng)

向后移動(dòng)防塵帽，測(cè)試結(jié)果如圖6所示有三個(gè)峰，后兩個(gè)峰值有所降低，因?yàn)楣庠诳諝庵袀鬏斁嚯x變長(zhǎng)，損耗變大，第一個(gè)峰和第二個(gè)峰間距變?yōu)?.40mm，第二個(gè)峰和第三個(gè)峰的距離不變，峰值位置符合上述分析。

圖6. 測(cè)試結(jié)果

以上峰值間距在折射率為n1=1.467（設(shè)備默認(rèn)折射率）下測(cè)得，則防塵帽向后移動(dòng)距離L1=(3.40mm-1.47mm)=1.93mm，但光在空氣傳播，折射率為n2=1，所以防塵帽實(shí)際向后移動(dòng)距離L2=L1*n1/n2=2.83mm。

光纖微裂紋檢測(cè)儀（OLI）可以精確定位整個(gè)掃描范圍內(nèi)的回波損耗，實(shí)現(xiàn)微米級(jí)光纖鏈路或光學(xué)器件的微損傷檢測(cè)。