季豐嘉善實(shí)驗(yàn)室包裝跌落試驗(yàn)機(jī) & 定向跌落測(cè)試機(jī)現(xiàn)已投入使用，歡迎有跌落測(cè)試需求的朋友們前來咨詢、委案！

01跌落測(cè)試

跌落測(cè)試主要用來模擬未包裝/包裝的產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能受到的自由跌落，考察產(chǎn)品抗意外沖擊的能力。具體來說，是將未包裝/包裝的產(chǎn)品的一角，三邊，六面自由落體，角是任一角，三邊對(duì)應(yīng)最短邊，第二短邊，最長邊，六面的順序是最小面積第二小面，最大面積。

02跌落試驗(yàn)的目的

跌落試驗(yàn)的目的是確定產(chǎn)品在搬運(yùn)，運(yùn)輸，存儲(chǔ)以及使用的過程期間抵抗投擲，受壓，跌落的適應(yīng)性能，其中包括卡通箱，產(chǎn)品的包裝方式是否完善和符合要求達(dá)到包裝保護(hù)產(chǎn)品的目的或者是確定安全要求用的最低牢固等級(jí)。

03跌落測(cè)試試驗(yàn)的條件

跌落測(cè)試試驗(yàn)條件：試驗(yàn)表面，釋放高度，釋放方法，確定3個(gè)參數(shù)后可利用試驗(yàn)儀器，對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行的跌落測(cè)試。

04造成跌落失效的原因

跌落常造成的失效有外包裝炸裂、漆膜破損、金屬變形、塑料破裂、元器件脫焊等機(jī)械損傷，造成這些損傷的原因就是跌落沖擊有沖擊力大、作用時(shí)間短的特點(diǎn)。

05為什么要做包裝跌落實(shí)驗(yàn)

包裝從很高的高度跌落的概率非常小。

多數(shù)包裝從低高度處會(huì)摔落許多次，而相對(duì)較少的包裝在較高高度處會(huì)摔落多次。

與單包裝相比，組合包裝受到的跌落次數(shù)更少且高度更低。

多數(shù)包裝都是基于其更穩(wěn)定方向運(yùn)輸，面跌落占跌落總數(shù)的一半以上。

包裝越重，跌落高度越低。

包裝越大，跌落高度越低。

包裝帶提手可能降低跌落高度。

帶有提醒標(biāo)簽如易碎、小心輕放等可能會(huì)降低跌落次數(shù)，但作用不是很明顯。

季豐包裝跌落設(shè)備能力如下：

定向跌落測(cè)試：

除了包裝我們還可以做成品定向跌落測(cè)試：真空吸盤治具，最大吸 附重量 2kg，滿足產(chǎn)品菱、角、面測(cè)試，備有 0°、 45°、90°三種固定模式，最大可跌落產(chǎn)品尺寸：W200xL210xD20mm,可滿足手機(jī)、平板計(jì)算機(jī)、電 子書、電子詞典、遙控器等跌落測(cè)試。

測(cè)試設(shè)備&能力：

治具示意圖（不僅限圖示，更多治具開發(fā)中）：

樣品示意圖：

參考標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 6587-2012電子測(cè)量儀器通用規(guī)范5.9.4 & 5.10.1

GB/T2423.8-1995/IEC：1990 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed：自由跌落

GB/T4857.5-1992/ISO2248：1985包裝運(yùn)輸包裝件跌落試驗(yàn)方法

IEC60068-2-32電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed:自由跌落