準(zhǔn)直流測試

對于準(zhǔn)直流測試，使用吉時(shí)利 2410 源表應(yīng)用準(zhǔn)直流測試來測試獨(dú)立二極管。 該脈沖呈梯形（tR~10μs），持續(xù)時(shí)間~350μs。

圖4.準(zhǔn)直流測試信號。

圖5.內(nèi)部保護(hù)鉗準(zhǔn)直流特性。

浪涌和準(zhǔn)直流測試的觀察結(jié)果

內(nèi)部箝位二極管D一個(gè)在+25°C時(shí)在0.78V和在+85°C時(shí)分別在0.7V時(shí)承載1mA電流（在開啟膝蓋區(qū)域）。

內(nèi)部箝位二極管DB+25°C時(shí)在0.7V時(shí)和+85°C時(shí)0.55V時(shí)可承載1mA電流（在開啟膝蓋區(qū)域）。

D 的行為一個(gè)（陽極信號到陰極交流接地）和DB（陽極交流接地的陰極信號）由于微小的內(nèi)部結(jié)構(gòu)差異而不對稱。

箝位二極管DB（到陽極交流接地的陰極信號）可以相對比D消耗更多的電流一個(gè).

內(nèi)部二極管的箝位行為將在較低的溫度（如-20°C或-40°C）下處于較高的箝位狀態(tài)。

外部保護(hù)解決方案

圖6.外部保護(hù)。

表 1 顯示了組件信息。A 優(yōu)選使用Z1和Z2齊納二極管代替標(biāo)準(zhǔn)TVS轉(zhuǎn)換器，因?yàn)榧词筎VS二極管在瞬態(tài)事件中吸收相對大量的能量，它們的電壓截止點(diǎn)也不受精細(xì)控制，并且會(huì)隨著時(shí)間的推移而老化。齊納二極管提供明確定義的箝位電壓。雙向操作是通過在背靠背配置中使用齊納二極管來實(shí)現(xiàn)的。

Z3的作用是箝位V兩端的電壓DDD1：D4 和 Z2 和 Z3 在過壓應(yīng)力的情況下提供額外的防御。D1：D4 旁路流向電源層的故障電流，Z1 Z2 組合繞過輸出走線處的故障電流并返回電源線，從而保護(hù) OUT+ 和 OUT- 輸出。背靠背齊納二極管的預(yù)期鉗位電壓 = 14V + 0.7V = 14.7V。

測試說明

VDD設(shè)置為 15V 恒定值。V測試在 0 至 16V 范圍內(nèi)分立斜坡，以觀察齊納箝位何時(shí)啟動(dòng)和 當(dāng)肖特基打開時(shí)。確保 V測試信號在關(guān)閉前“打開”1-2秒，然后關(guān)閉 在“開”條件下進(jìn)行了觀察。這樣做是為了確保持續(xù)功耗 時(shí)間可以忽略不計(jì)。測試在-30°C、+25°C和+60°C下進(jìn)行。

當(dāng) V測試信號超過15V時(shí)，齊納鉗位二極管兩端的電流呈指數(shù)上升，因此， 功耗超過500mW。Z1 和 Z2 齊納二極管的額定功率僅為 500mW 連續(xù) PDIS。所以 上述保護(hù)功能僅用于瞬時(shí)而非連續(xù)目的，如電力線瞬態(tài)事件期間所預(yù)期的那樣。

圖7.外部保護(hù)解決方案的測試設(shè)置和結(jié)果。

來自外部保護(hù)解決方案的觀察結(jié)果

當(dāng)外部肖特基二極管導(dǎo)通時(shí)，流向AVDD的電流試圖將AVDD電壓拉近信號電壓。

齊納背靠背夾具是第一道防線。它們在肖特基二極管打開之前首先打開。

在相同的測試條件下，肖特基的鉗位電壓在高溫下較低，在低溫下較高。

五世鉗或齊納箝位電壓走線隨溫度變化閉合，如上所示。

從上述觀察中，我們可以推斷：

兩層保護(hù)打開，確保內(nèi)部二極管不打開。

即使內(nèi)部二極管導(dǎo)通（短暫），大部分電流也會(huì)通過 肖特基和齊納箝位，從而保護(hù)線路驅(qū)動(dòng)器的內(nèi)部二極管。內(nèi)部的特點(diǎn) 鉗位可以從準(zhǔn)直流測試中觀察到。

審核編輯：郭婷