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新思科技推出創(chuàng)新的流結(jié)構(gòu)技術(shù) 可精準(zhǔn)的功耗估算提高數(shù)據(jù)可靠性

新思科技 ? 來(lái)源:新思科技 ? 作者:新思科技 ? 2022-10-11 16:51 ? 次閱讀
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新型流結(jié)構(gòu)技術(shù)可實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)的芯片健康監(jiān)測(cè)和可靠的終端設(shè)備運(yùn)行。

新思科技(Synopsys)近日推出了一項(xiàng)創(chuàng)新的流結(jié)構(gòu)技術(shù)(Streaming fabric technology),能夠?qū)⑿酒瑪?shù)據(jù)訪問(wèn)和測(cè)試的時(shí)間最高縮短80%,并極大程度地降低極限功耗,從而支持日益復(fù)雜的大型設(shè)計(jì)中芯片健康監(jiān)測(cè)的實(shí)時(shí)分析。作為新思科技芯片生命周期管理流程的一部分,該創(chuàng)新的流結(jié)構(gòu)是一種獨(dú)特的片上網(wǎng)絡(luò),由新思科技TestMAXDFT可測(cè)性設(shè)計(jì)工具生成,可以快速地將芯片數(shù)據(jù)傳輸?shù)蕉鄠€(gè)設(shè)計(jì)塊和多裸晶芯片系統(tǒng)中,顯著縮短了測(cè)試和分析芯片整體健康狀況以發(fā)現(xiàn)異常和故障的時(shí)間。

Enfabrica正在打造作為超分布式計(jì)算系統(tǒng)核心的尖端芯片,需要行業(yè)領(lǐng)先的芯片生命周期管理技術(shù)來(lái)實(shí)現(xiàn)我們的高質(zhì)量目標(biāo)。與現(xiàn)有方法相比,新思科技的新型流結(jié)構(gòu)技術(shù)已證實(shí)可以大大縮短我們的設(shè)計(jì)測(cè)試時(shí)間。我們對(duì)測(cè)試結(jié)果十分滿意,并期待在我們的芯片測(cè)試中加以應(yīng)用。

縮短數(shù)據(jù)傳輸時(shí)間以降低測(cè)試成本

確保芯片的健康和正常運(yùn)行需要持續(xù)訪問(wèn)和分析芯片或多裸晶芯片系統(tǒng)數(shù)據(jù),例如工藝、電壓和溫度等參數(shù)。對(duì)于大型的先進(jìn)工藝節(jié)點(diǎn)設(shè)計(jì),工程團(tuán)隊(duì)通常采用分治法,將數(shù)據(jù)訪問(wèn)集成到每個(gè)設(shè)計(jì)模塊中,然后連接到芯片級(jí)引腳。

傳統(tǒng)網(wǎng)絡(luò)比較死板,需要大量的規(guī)劃工作。相比之下,新型流結(jié)構(gòu)技術(shù)采用即插即用的方法,可以被編程以適應(yīng)各模塊的速度和數(shù)據(jù)接口尺寸,因此只需極少的規(guī)劃工作。為了不斷減少繞線,該結(jié)構(gòu)采用小數(shù)據(jù)接口模塊的簡(jiǎn)化分支。這些功能可確保模塊級(jí)數(shù)據(jù)訪問(wèn)方法的物理設(shè)計(jì)友好性,盡可能地降低工作量,并大幅縮短所需訪問(wèn)時(shí)間,從而降低測(cè)試成本。此外,該技術(shù)簡(jiǎn)化了分支連接,可大幅減少設(shè)計(jì)的物理影響,使工程團(tuán)隊(duì)能夠使用新思科技數(shù)字設(shè)計(jì)系列產(chǎn)品快速部署該新型流架構(gòu)。

精準(zhǔn)的功耗估算提高數(shù)據(jù)可靠性

應(yīng)用于現(xiàn)場(chǎng)的芯片或多裸晶芯片系統(tǒng)的數(shù)據(jù)(包括測(cè)試向量),不應(yīng)導(dǎo)致芯片產(chǎn)生過(guò)多的功耗,否則可能會(huì)損壞零件或使結(jié)果失效。相比以前的方法,新思科技TestMAX ATPG測(cè)試向量生成解決方案采用全新功耗估算技術(shù),可通過(guò)新思科技PrimePower RTL-to-signoff功耗分析技術(shù)的結(jié)果,更精確地確定在數(shù)據(jù)應(yīng)用期間的功耗,從而緩解功耗下降,避免產(chǎn)生不正確的芯片數(shù)據(jù)結(jié)果和損壞。

提供高效、高性價(jià)比的芯片數(shù)據(jù)訪問(wèn)是設(shè)備在全生命周期內(nèi)實(shí)現(xiàn)可靠運(yùn)行的一項(xiàng)基本要求,并且對(duì)于任務(wù)關(guān)鍵型應(yīng)用能夠保持長(zhǎng)期正常運(yùn)行時(shí)間至關(guān)重要。新型流結(jié)構(gòu)技術(shù)和更精確的測(cè)試向量功耗估算功能,將進(jìn)一步增強(qiáng)我們的芯片生命周期管理系列產(chǎn)品,確??蛻粼趯?shí)現(xiàn)設(shè)計(jì)和進(jìn)度目標(biāo)的同時(shí)能夠?qū)崿F(xiàn)這些目標(biāo)。

審核編輯:彭靜
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原文標(biāo)題:芯片生命周期管理平臺(tái)持續(xù)升級(jí),創(chuàng)新流結(jié)構(gòu)技術(shù)實(shí)時(shí)檢測(cè)芯片“健康”

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